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1. WO2020108589 - TEST APPARATUS AND METHOD FOR HIGH-SPEED LINK SYSTEM

Publication Number WO/2020/108589
Publication Date 04.06.2020
International Application No. PCT/CN2019/121842
International Filing Date 29.11.2019
IPC
H04B 17/20 2015.01
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
BTRANSMISSION
17Monitoring; Testing
20of receivers
CPC
H04B 17/20
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
BTRANSMISSION
17Monitoring; Testing
20of receivers
H04B 17/309
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
BTRANSMISSION
17Monitoring; Testing
30of propagation channels
309Measuring or estimating channel quality parameters
H04L 27/04
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
27Modulated-carrier systems
02Amplitude-modulated carrier systems, e.g. using on-off keying; Single sideband or vestigial sideband modulation
04Modulator circuits
Applicants
  • 中兴通讯股份有限公司 ZTE CORPORATION [CN]/[CN]
Inventors
  • 刘春伟 LIU, Chunwei
Agents
  • 北京品源专利代理有限公司 BEYOND ATTORNEYS AT LAW
Priority Data
201811445288.829.11.2018CN
Publication Language Chinese (ZH)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) TEST APPARATUS AND METHOD FOR HIGH-SPEED LINK SYSTEM
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE TEST POUR SYSTÈME DE LIAISON À GRANDE VITESSE
(ZH) 高速链路系统的测试装置及方法
Abstract
(EN)
The present disclosure provides a test apparatus for a high-speed link system, comprising: a chip test device, a transmission insertion loss ISI attenuation device, a crosstalk ISI attenuation device and a crosstalk XTK test device. The XTK test device is configured to form, in a received attenuated transmission test signal, a crosstalk signal from a received attenuated crosstalk test signal, and transmit to the chip test device the attenuated transmission test signal carrying the crosstalk signal. The chip test device is further configured to perform test evaluation on quality parameters of the attenuated transmission test signal carrying the crosstalk signal. Further disclosed herein is a test method for a high-speed link system.
(FR)
La présente invention concerne un appareil de test pour un système de liaison à grande vitesse, comportant: un dispositif de test de puce, un dispositif d'atténuation de pertes d'insertion ISI de transmission, un dispositif d'atténuation d'ISI de diaphonie et un dispositif de test de diaphonie XTK. Le dispositif de test de XTK est configuré pour former, dans un signal de test de transmission atténué reçu, un signal de diaphonie à partir d'un signal de test de diaphonie atténué reçu, et transmettre au dispositif de test de puce le signal de test de transmission atténué transportant le signal de diaphonie. Le dispositif de test de puce est en outre configuré pour effectuer une évaluation de test sur des paramètres de qualité du signal de test de transmission atténué transportant le signal de diaphonie. La présente invention concerne en outre un procédé de test pour un système de liaison à grande vitesse.
(ZH)
本公开提出了一种高速链路系统的测试装置,包括:芯片测试器件、传输插入损耗ISI衰减器件、串扰ISI衰减器件和串扰XTK测试器件;所述XTK测试器件,设置为将接收到的衰减后的串扰测试信号在接收到的衰减后的传输测试信号中形成串扰信号,并将承载所述串扰信号的衰减后的传输测试信号传输至所述芯片测试器件;所述芯片测试器件,还设置为对承载所述串扰信号的衰减后的传输测试信号的质量参数进行测试评估。本文还公开了一种高速链路系统的测试方法。
Also published as
Latest bibliographic data on file with the International Bureau