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1. WO2020108359 - TEST STRUCTURE FOR RESISTIVE STORAGE UNIT, AND ENDURANCE TEST METHOD

Publication Number WO/2020/108359
Publication Date 04.06.2020
International Application No. PCT/CN2019/119607
International Filing Date 20.11.2019
IPC
G11C 29/50 2006.01
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation; Testing stores during standby or offline operation
04Detection or location of defective memory elements
50Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
CPC
G11C 29/50
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
04Detection or location of defective memory elements ; , e.g. cell constructio details, timing of test signals
50Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
Applicants
  • 浙江驰拓科技有限公司 ZHEJIANG HIKSTOR TECHNOLOGY CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventors
  • 何世坤 HE, Shikun
  • 杨晓蕾 YANG, Xiaolei
  • 竹敏 ZHU, Min
  • 任云翔 REN, Yunxiang
Agents
  • 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 BEIJING LTXT INTELLECTUAL PROPERTY LAW LLC
Priority Data
201811424807.227.11.2018CN
Publication Language Chinese (ZH)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) TEST STRUCTURE FOR RESISTIVE STORAGE UNIT, AND ENDURANCE TEST METHOD
(FR) STRUCTURE DE TEST POUR UNITÉ DE STOCKAGE RÉSISTIVE, ET PROCÉDÉ DE TEST D'ENDURANCE
(ZH) 用于阻性存储单元的测试结构及耐久性测试方法
Abstract
(EN)
Disclosed are a test structure for a resistive storage unit, and an endurance test method. The test structure comprises: a plurality of resistive storage units to be tested, wherein each resistive storage unit to be tested is connected to a controllable switch device, first connection ends of the resistive storage units to be tested are connected to one point and are jointly connected to a first test electrode, a second connection end of each resistive storage unit to be tested is connected to the first connection end of the corresponding controllable switch device, second connection ends of the controllable switch devices are connected to one point and are jointly connected to a second test electrode, control ends of the controllable switch devices are connected to respective control signal electrodes, the first test electrode and the second test electrode are used for inputting read/write signals, and the control signal electrodes are used for inputting control signals of the controllable switch devices. The structure and method can save on a layout area, improve testing efficiency and save on testing time.
(FR)
L'invention concerne une structure de test pour une unité de stockage résistive, et un procédé de test d'endurance. La structure de test comprend : une pluralité d'unités de stockage résistives à tester, chaque unité de stockage résistive à tester étant connectée à un dispositif de commutation pouvant être commandé, des premières extrémités de connexion des unités de stockage résistives à tester sont connectées à un point et sont connectées conjointement à une première électrode de test, une seconde extrémité de connexion de chaque unité de stockage résistive à tester est connectée à la première extrémité de connexion du dispositif de commutation pouvant être commandé correspondant, des secondes extrémités de connexion des dispositifs de commutation pouvant être commandés sont connectées à un point et sont connectées conjointement à une seconde électrode de test, les extrémités de commande des dispositifs de commutation pouvant être commandés sont connectées à des électrodes de signal de commande respectives, la première électrode de test et la seconde électrode de test sont utilisées pour entrer des signaux de lecture/écriture, et les électrodes de signal de commande sont utilisées pour entrer des signaux de commande des dispositifs de commutation pouvant être commandés. La structure et le procédé peuvent économiser une zone de disposition, améliorer l'efficacité de test et économiser du temps de test.
(ZH)
一种用于阻性存储单元的测试结构及耐久性测试方法。所述测试结构包括:多个待测阻性存储单元,每个待测阻性存储单元分别连接有一个可控开关器件,每个待测阻性存储单元的第一连接端接于一点,共同连接至第一测试电极,每个待测阻性存储单元的第二连接端分别连接至对应的可控开关器件的第一连接端,每个可控开关器件的第二连接端接于一点,共同连接至第二测试电极,每个可控开关器件的控制端分别连接至各自的控制信号电极,其中,第一测试电极和第二测试电极用于输入读写信号,各控制信号电极用于输入可控开关器件的控制信号。所述结构和方法能够节省版图面积,提高测试效率,节省测试时间。
Also published as
Latest bibliographic data on file with the International Bureau