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1. WO2020095810 - INSPECTION INSTRUCTIONS INFORMATION GENERATION DEVICE, BOARD INSPECTION SYSTEM, INSPECTION INSTRUCTIONS INFORMATION GENERATION METHOD, AND INSPECTION INSTRUCTIONS INFORMATION GENERATION PROGRAM

Publication Number WO/2020/095810
Publication Date 14.05.2020
International Application No. PCT/JP2019/042765
International Filing Date 31.10.2019
IPC
G01R 31/02 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
02Testing of electric apparatus, lines, or components for short-circuits, discontinuities, leakage, or incorrect line connection
H05K 3/00 2006.01
HELECTRICITY
05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
3Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
Applicants
  • 日本電産リード株式会社 NIDEC-READ CORPORATION [JP]/[JP]
Inventors
  • 椹木 雅也 SAWARAGI Masaya
Agents
  • 柳野 隆生 YANAGINO Takao
  • 柳野 嘉秀 YANAGINO Yoshihide
  • 森岡 則夫 MORIOKA Norio
  • 関口 久由 SEKIGUCHI Hisayoshi
  • 大西 裕人 OHNISHI Hiroto
Priority Data
2018-21107909.11.2018JP
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) INSPECTION INSTRUCTIONS INFORMATION GENERATION DEVICE, BOARD INSPECTION SYSTEM, INSPECTION INSTRUCTIONS INFORMATION GENERATION METHOD, AND INSPECTION INSTRUCTIONS INFORMATION GENERATION PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE GÉNÉRATION D'INFORMATIONS D'INSTRUCTIONS D'INSPECTION, SYSTÈME D'INSPECTION DE CARTES, PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE GÉNÉRATION D'INFORMATIONS D'INSTRUCTIONS D'INSPECTION
(JA) 検査指示情報生成装置、基板検査システム、検査指示情報生成方法、及び検査指示情報生成プログラム
Abstract
(EN)
An inspection instructions information generation device 1 according to the present invention comprises: a storage unit 34 for storing conductive structure information D1 indicating how a plurality of electroconductive parts P, wiring W, and vias V of a board B are conductively connected, the board B comprising a pair of front and rear board faces F1, F2 on which the conductive parts P are provided, a wiring layer L constituting a layer stacked between the board faces F1, F2, and the vias V, which connect the wiring of the wiring layer L and the plurality of conductive parts P; and an inspection instructions information generating unit 33 for performing an inspection instructions information generation process where, on the basis of the conductive structure information D1, the plurality of electroconductive parts P are combined two at a time by pairing conductive parts P formed on the same board face, and information indicating the combined pairs of electroconductive parts P is generated as inspection instructions information D2.
(FR)
Selon la présente invention, un dispositif de génération d'informations d'instructions d'inspection 1 comprend : une unité de stockage 34 pour stocker des informations sur une structure conductrice D1 indiquant la manière dont une pluralité de parties électroconductrices P, le câblage W et les trous d'interconnexion V d'une carte B sont connectés de manière conductrice, la carte B comprenant une paire de faces avant et arrière F1, F2 de la carte sur lesquelles sont disposées les parties conductrices P, une couche de câblage L constituant une couche empilée entre les faces F1, F2 de la carte et les trous d'interconnexion V, qui connectent le câblage de la couche de câblage L et la pluralité de parties conductrices P ; et une unité de génération d'informations d'instructions d'inspection servant à exécuter un processus de génération d'informations d'instructions d'inspection où, sur la base des informations de la structure conductrice D1, la pluralité de parties électroconductrices P sont combinées deux à la fois en appariant les parties conductrices P formées sur la même face de la carte, et des informations relatives aux paires combinées de parties électroconductrices P sont générées en tant qu'informations d'instructions d'inspection D2.
(JA)
検査指示情報生成装置1は、複数の導電部Pが設けられた表裏一対の基板面F1,F2と、基板面F1,F2の間に積層された層である配線層Lと、配線層Lの配線と複数の導電部Pとを接続するビアVとを備える基板Bにおける導電部P、配線W、及びビアVが、どのように導通接続されているかを示す導電構造情報D1を記憶する記憶部34と、導電構造情報D1に基づいて、同一の基板面に形成された導通部P同士を対にして複数の導電部Pを二つずつ組合せ、当該組み合わされた一対の導電部Pを示す情報を、検査指示情報D2として生成する検査指示情報生成処理を実行する検査指示情報生成部33とを備えた。
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