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1. WO2020090311 - SOLID-STATE IMAGING ELEMENT

Publication Number WO/2020/090311
Publication Date 07.05.2020
International Application No. PCT/JP2019/038136
International Filing Date 27.09.2019
IPC
H04N 5/3745 2011.01
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
5Details of television systems
30Transforming light or analogous information into electric information
335using solid-state image sensors
369SSIS architecture; Circuitry associated therewith
374Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
3745having additional components embedded within a pixel or connected to a group of pixels within a sensor matrix, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
Applicants
  • ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION [JP]/[JP]
Inventors
  • 朱 弘博 ZHU, Hongbo
Agents
  • 丸島 敏一 MARUSHIMA, Toshikazu
Priority Data
2018-20339530.10.2018JP
2019-16860217.09.2019JP
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) SOLID-STATE IMAGING ELEMENT
(FR) ÉLÉMENT D'IMAGERIE À SEMI-CONDUCTEUR
(JA) 固体撮像素子
Abstract
(EN)
In this solid-state imaging element which compares a variation in the amount of light and a threshold value, time required to adjust the threshold value is shortened. The solid-state imaging element is provided with a voltage comparison unit and a counting unit. In the solid-state imaging element, the voltage comparison unit compares an analog signal corresponding to a variation in incident light and a predetermined voltage indicating the boundary of a predetermined voltage range and outputs the comparison result as a voltage comparison result. Furthermore, in the solid-state imaging element, the counting unit counts a counter value each time a voltage comparison result indicating that the analog signal is out of the voltage range is outputted.
(FR)
L'invention concerne un élément d'imagerie à semi-conducteurs qui compare une variation de la quantité de lumière avec une valeur de seuil, possédant un temps nécessaire pour ajuster la valeur de seuil qui est raccourci. L'élément d'imagerie à semi-conducteurs est pourvu d'une unité de comparaison de tension et d'une unité de comptage. Dans l'élément d'imagerie à semi-conducteurs, l'unité de comparaison de tension compare un signal analogique correspondant à une variation de lumière incidente et une tension prédéterminée indiquant la limite d'une plage de tension prédéterminée et délivre le résultat de comparaison en tant que résultat de comparaison de tension. En outre, dans l'élément d'imagerie à semi-conducteurs, l'unité de comptage compte à chaque fois qu'un résultat de comparaison de tension indique que le signal analogique sortant de la plage de tension est délivré.
(JA)
光量の変化量と閾値とを比較する固体撮像素子において、閾値の調整に要する時間を短くする。 固体撮像素子は、電圧比較部、および、計数部を具備する。この固体撮像素子において、電圧比較部は、入射光の変化量に応じたアナログ信号と所定の電圧範囲の境界を示す所定電圧とを比較して比較結果を電圧比較結果として出力する。また、固体撮像素子において、計数部は、アナログ信号が電圧範囲外であることを示す電圧比較結果が出力されるたびに計数値を計数する。
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