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1. WO2020068131 - LEAKAGE DETECTION FOR ELECTRONIC DEVICE

Publication Number WO/2020/068131
Publication Date 02.04.2020
International Application No. PCT/US2018/053623
International Filing Date 28.09.2018
IPC
G01R 31/02 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
02Testing of electric apparatus, lines, or components for short-circuits, discontinuities, leakage, or incorrect line connection
CPC
G01R 31/52
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
52Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
Applicants
  • LIQUID ROBOTICS, INC., A SUBSIDIARY OF THE BOEING COMPANY [US]/[US]
Inventors
  • CENCULA, Christopher D.
  • OTTEN, Casper G.
Agents
  • MOORE, Jason L.
Priority Data
Publication Language English (EN)
Filing Language English (EN)
Designated States
Title
(EN) LEAKAGE DETECTION FOR ELECTRONIC DEVICE
(FR) DÉTECTION DE FUITE POUR DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
Abstract
(EN)
A method of detecting a leakage path in an electronic device includes iteratively performing operations until an iteration condition is satisfied. The operations include causing a capacitor to be set to a known state, measuring a voltage level of the capacitor, and storing data indicating the measured voltage level. The operations also include causing the capacitor to be connected to a potential leakage path, remeasuring the voltage level of the capacitor, and storing data indicating the remeasured voltage level. The operations further include comparing the measured voltage level and the remeasured voltage level to detect leakage in the potential leakage path. The iteration condition is satisfied when a difference between the measured voltage level and the remeasured voltage level satisfies a voltage threshold or when a count of iterations performed satisfies an iteration threshold.
(FR)
Cette invention concerne un procédé de détection d'un chemin de fuite dans un dispositif électronique, consistant à exécuter de manière itérative des opérations jusqu'à ce qu'une condition d'itération soit satisfaite. Les opérations consistent à amener un condensateur à être réglé à un état connu, à mesurer un niveau de tension du condensateur, et à stocker des données indiquant le niveau de tension mesuré. Les opérations consistent également à amener le condensateur à être connecté à un chemin de fuite potentiel, à remesurer le niveau de tension du condensateur, et à stocker des données indiquant le niveau de tension remesuré. Les opérations consistent en outre à comparer le niveau de tension mesuré et le niveau de tension remesuré pour détecter une fuite dans le chemin de fuite potentiel. La condition d'itération est satisfaite lorsqu'une différence entre le niveau de tension mesuré et le niveau de tension remesuré satisfait un seuil de tension ou lorsqu'un nombre d'itérations effectuées satisfait un seuil d'itération.
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