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1. WO2020007119 - DISPLAY SCREEN PERIPHERAL CIRCUIT DETECTION METHOD AND DEVICE, ELECTRONIC DEVICE AND STORAGE MEDIUM

Publication Number WO/2020/007119
Publication Date 09.01.2020
International Application No. PCT/CN2019/085921
International Filing Date 08.05.2019
IPC
G PHYSICS
06
COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
T
IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7
Image analysis, e.g. from bit-mapped to non bit-mapped
G06T 7/00 (2017.01)
CPC
G01N 2021/8887
G01N 21/8851
G01N 21/956
G06T 7/0004
Applicants
  • 北京百度网讯科技有限公司 BEIJING BAIDU NETCOM SCIENCE TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国北京市 海淀区上地十街10号百度大厦2层 2/F Baidu Campus No. 10, Shangdi 10th Street, Haidian District Beijing 100085, CN
Inventors
  • 文亚伟 WEN, Yawei; CN
  • 冷家冰 LENG, Jiabing; CN
  • 刘明浩 LIU, Minghao; CN
  • 徐玉林 XU, Yulin; CN
  • 郭江亮 GUO, Jiangliang; CN
  • 李旭 LI, Xu; CN
Agents
  • 北京同立钧成知识产权代理有限公司 LEADER PATENT & TRADEMARK FIRM; 中国北京市 海淀区西直门北大街32号枫蓝国际A座8F-6 8F-6 Bldg. A, Winland International Center No. 32 Xizhimen North Street. Haidian District Beijing 100082, CN
Priority Data
201810710534.102.07.2018CN
Publication Language Chinese (ZH)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) DISPLAY SCREEN PERIPHERAL CIRCUIT DETECTION METHOD AND DEVICE, ELECTRONIC DEVICE AND STORAGE MEDIUM
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE DÉTECTION DE CIRCUIT PÉRIPHÉRIQUE D'ÉCRAN D'AFFICHAGE, DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE ET SUPPORT D'INFORMATIONS
(ZH) 显示屏外围电路检测方法、装置、电子设备及存储介质
Abstract
(EN)
Disclosed are a display screen peripheral circuit detection method and device, an electronic device and a storage medium. A quality detection request sent from a console deployed on a display screen peripheral circuit production line is received, the quality detection request including a display screen peripheral circuit image acquired by an image acquisition device on the display screen peripheral circuit production line (S101); the display screen peripheral circuit image is enlarged or reduced to obtain a to-be-detected image of which the size is consistent to an input size of a defect detection model (S102), wherein the defect detection model is obtained by performing object detection algorithm FAST RCNN on a historical defect display screen peripheral circuit image; the to-be-detected image is input to the defect detection model to obtain a defect detection result (S103); and according to the defect detection result, the quality of the display screen peripheral circuit corresponding to the display screen peripheral circuit image is determined (S104). The technical solution has high defect detection accuracy, good system performance and high business expansion ability.
(FR)
La présente invention concerne un procédé et un dispositif de détection de circuit périphérique d'écran d'affichage, un dispositif électronique et un support d'informations. Une requête de détection de qualité envoyée depuis une console déployée sur une ligne de production de circuit périphérique d'écran d'affichage est reçue, la requête de détection de qualité comprenant une image de circuit périphérique d'écran d'affichage acquise par un dispositif d'acquisition d'image sur la ligne de production de circuit périphérique d'écran d'affichage (S101) ; l'image de circuit périphérique d'écran d'affichage est agrandie ou réduite pour obtenir une image à détecter dont la taille est conforme à une taille d'entrée d'un modèle de détection de défaut (S102), le modèle de détection de défaut étant obtenu par réalisation d'un algorithme de détection d'objet FAST RCNN sur une image de circuit périphérique d'écran d'affichage de défaut historique ; l'image à détecter est entrée dans le modèle de détection de défaut pour obtenir un résultat de détection de défaut (S103) ; et selon le résultat de détection de défaut, la qualité du circuit périphérique d'écran d'affichage correspondant à l'image de circuit périphérique d'écran d'affichage est déterminée (S104). La solution technique présente une précision élevée de détection de défaut, une bonne performance du système et une grande capacité d'expansion des affaires.
(ZH)
一种显示屏外围电路检测方法、装置、电子设备及存储介质,通过接收部署在显示屏外围电路生产线上的控制台发送的质量检测请求,所述质量检测请求中包含所述显示屏外围电路生产线上的图像采集设备采集的显示屏外围电路图像(S101);将所述显示屏外围电路图像放大或缩小,得到大小与缺陷检测模型的输入大小要求一致的待测图像(S102),其中,所述缺陷检测模型是对历史缺陷显示屏外围电路图像进行物体检测算法FAST RCNN训练得到的;将所述待测图像输入到缺陷检测模型中得到缺陷检测结果(S103);根据所述缺陷检测结果确定所述显示屏外围电路图像对应的显示屏外围电路的质量好坏(S104)。该技术方案的缺陷检测准确度高、系统性能好,业务扩展能力高。
Also published as
KR1020197034320
KRKR1020197034320
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