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1. (WO2019067796) PATH RESOLVED OPTICAL SAMPLING ARCHITECTURES
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Pub. No.: WO/2019/067796 International Application No.: PCT/US2018/053237
Publication Date: 04.04.2019 International Filing Date: 27.09.2018
IPC:
G01N 21/49 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
17
Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47
Scattering, i.e. diffuse reflection
49
within a body or fluid
Applicants:
MASSETA TECHNOLOGIES LLC [US/US]; Corporation Trust Center 1209 Orange Street Wilmington, Delaware 19801, US
Inventors:
Agent:
NGUYEN, Jean; US
Priority Data:
62/565,78929.09.2017US
Title (EN) PATH RESOLVED OPTICAL SAMPLING ARCHITECTURES
(FR) ARCHITECTURES D'ÉCHANTILLONNAGE OPTIQUE DE CHEMIN DE RÉSOLUTION
Abstract:
(EN) Described here are optical sampling architectures and methods for operation thereof. An optical sampling architecture can be capable of emitting a launch sheet light beam towards a launch region and receiving a detection sheet light beam from a detection region. The launchregion can have one dimension that is elongated relative to another dimension. The detection region can also have one dimension elongated relative to another dimension such that the system can selectively accept light having one or more properties (e.g., angle of incidence, beam size, beam shape, etc.). In some examples, the elongated dimension of the detection region can be greater than the elongated dimension of the launch region. In some examples, the system can include an outcoupler array and associated components for creating a launch sheet light beam having light rays with different in-plane launch positions and/or in-plane launch angles.
(FR) La présente invention a trait à des architectures d'échantillonnage optique et à des procédés de fonctionnement associés. Une architecture d'échantillonnage optique peut émettre un faisceau lumineux de feuille de lancement vers une région de lancement et recevoir un faisceau lumineux de feuille de détection en provenance d'une région de détection. La zone de lancement peut avoir une dimension qui est allongée par rapport à une autre dimension. La région de détection peut également avoir une dimension allongée par rapport à une autre dimension de telle sorte que le système puisse accepter de manière sélective de la lumière ayant une ou plusieurs propriétés (par exemple un angle d'incidence, une taille de faisceau, une forme de faisceau, etc.). Dans certains exemples, la dimension allongée de la région de détection peut être supérieure à la dimension allongée de la région de lancement. Dans certains exemples, ce système peut inclure un réseau de coupleurs de sortie et des composants associés permettant de créer un faisceau lumineux de feuille de lancement qui possède des rayons lumineux ayant différentes positions de lancement dans le plan et/ou différents angles de lancement dans le plan.
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)