Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2019067471) SYSTEMS AND METHODS FOR CONDUCTING IN-SITU MONITORING IN ADDITIVE MANUFACTURE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2019/067471 International Application No.: PCT/US2018/052720
Publication Date: 04.04.2019 International Filing Date: 25.09.2018
IPC:
B29C 64/386 (2017.01) ,G06F 17/50 (2006.01) ,B33Y 50/00 (2015.01)
[IPC code unknown for B29C 64/386]
G PHYSICS
06
COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
F
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
17
Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
50
Computer-aided design
[IPC code unknown for B33Y 50]
Applicants:
ARCONIC INC. [US/US]; 201 Isabella Street Pittsburgh, PA 15212-5858, US
Inventors:
MALKANI, Haresh G.; US
BUTKEWITSCH CHOZE, Sergio; US
CRUM, Kyle A.; US
Agent:
BERSH, Lennie A.; US
Priority Data:
62/564,09727.09.2017US
Title (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR CONDUCTING IN-SITU MONITORING IN ADDITIVE MANUFACTURE
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE RÉALISATION D'UNE SURVEILLANCE IN SITU EN FABRICATION ADDITIVE
Abstract:
(EN) Disclosed are various embodiments of systems and methods for conducting, based at least in part on in-situ monitoring data as input, iterative simulations of various part-build simulation models to generate instructions to an Additive Manufacture ("AM") machine. An embodiment of the present disclosure provides a method that at least includes: building, by the AM machine, an AM part based on a digital twin; monitoring, by an in-situ monitoring sensor, the AM build process; to obtain in-situ monitoring sensing data; determining a discrepancy between the AM part being built and one or more predefined criteria defined based on the digital twin; iteratively simulating an AM simulation model, based on the in-situ monitoring sensing data, to identify an AM process adjustment or a lack of the at least one AM process adjustment; and causing to implement the AM process adjustment by the AM machine to remedy the discrepancy or instructing the AM machine to discharge the AM part.
(FR) L'invention concerne divers modes de réalisation de systèmes et de procédés permettant d'effectuer, d'après au moins en partie de données de surveillance in situ servant d'entrée, des simulations itératives de divers modèles de simulation de construction de pièces afin de générer des instructions pour une machine de fabrication additive (« AM »). Un mode de réalisation de l'invention concerne un procédé qui consiste au moins à : construire, au moyen de la machine AM, une pièce AM d'après une jumelle numérique; surveiller, au moyen d'un capteur de surveillance in situ, le processus de construction AM; obtenir des données de détection de surveillance in situ; déterminer une divergence entre la partie AM qui est construite et un ou plusieurs critères prédéfinis définis d'après la jumelle numérique; simuler de manière itérative un modèle de simulation AM d'après les données de détection de surveillance in situ afin d'identifier un ajustement de processus AM ou l'absence de l'ajustement ou des ajustements du processus AM; et faire en sorte que le processus AM soit exécuté par la machine AM afin de remédier à la différence ou demander à la machine AM de décharger la pièce AM.
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)