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1. (WO2019067450) CONNECTED EPITAXIAL OPTICAL SENSING SYSTEMS
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Pub. No.: WO/2019/067450 International Application No.: PCT/US2018/052669
Publication Date: 04.04.2019 International Filing Date: 25.09.2018
IPC:
G01J 1/42 (2006.01) ,G01J 1/02 (2006.01) ,H01S 5/026 (2006.01) ,H01S 5/0683 (2006.01) ,H01S 5/40 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
1
Photometry, e.g. photographic exposure meter
42
using electric radiation detectors
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
1
Photometry, e.g. photographic exposure meter
02
Details
H ELECTRICITY
01
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
S
DEVICES USING STIMULATED EMISSION
5
Semiconductor lasers
02
Structural details or components not essential to laser action
026
Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors or drivers
H ELECTRICITY
01
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
S
DEVICES USING STIMULATED EMISSION
5
Semiconductor lasers
06
Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
068
Stabilisation of laser output parameters
0683
by monitoring the optical output parameters
H ELECTRICITY
01
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
S
DEVICES USING STIMULATED EMISSION
5
Semiconductor lasers
40
Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02-H01S5/30128
Applicants:
MASSETA TECHNOLOGIES LLC [US/US]; Corporation Trust Center 1209 Orange Street Wilmington, Delaware 19801, US
Inventors:
Agent:
NGUYEN, Jean; US
Priority Data:
62/566,02729.09.2017US
Title (EN) CONNECTED EPITAXIAL OPTICAL SENSING SYSTEMS
(FR) SYSTÈMES DE DÉTECTION OPTIQUE ÉPITAXIAUX CONNECTÉS
Abstract:
(EN) A device including a plurality of epitaxial chips is disclosed. An epitaxial chip can have one or more of a light source and a detector, where the detector can be configured to measure the optical properties of the light emitted by a light source. In some examples, one or more epitaxial chips can have one or more optical properties that differ from other epitaxial chips. The epitaxial chips can be dependently operable. For example, the detector located on one epitaxial chip can be configured for measuring the optical properties of light emitted by a light source located on another epitaxial chip by way of one or more optical signals. The collection of epitaxial chips can also allow detection of a plurality of laser outputs, where two or more epitaxial chips can have different material and/or optical properties.
(FR) L'invention concerne un dispositif comprenant une pluralité de puces épitaxiales. Une puce épitaxiale peut avoir un ou plusieurs parmi une source de lumière et un détecteur, le détecteur pouvant être conçu pour mesurer les propriétés optiques de la lumière émise par une source de lumière. Selon certains exemples, une ou plusieurs puces épitaxiales peuvent avoir une ou plusieurs propriétés optiques qui diffèrent de celles des autres puces épitaxiales. Les puces épitaxiales peuvent fonctionner de manière dépendante. Par exemple, le détecteur situé sur une puce épitaxiale peut être conçu pour mesurer les propriétés optiques d'une lumière émise par une source de lumière située sur une autre puce épitaxiale au moyen d'un ou de plusieurs signaux optiques. La collecte de puces épitaxiales peut également permettre la détection d'une pluralité de sorties laser, deux, ou plus, puces épitaxiales pouvant avoir des propriétés matérielles et/ou optiques différentes.
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)