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1. (WO2019064460) SIGNAL PROCESSING DEVICE AND TESTING METHOD
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Pub. No.: WO/2019/064460 International Application No.: PCT/JP2017/035334
Publication Date: 04.04.2019 International Filing Date: 28.09.2017
IPC:
G01R 31/316 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31
Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28
Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
316
Testing of analog circuits
Applicants:
三菱電機株式会社 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310, JP
Inventors:
倉地 晴幸 KURACHI Haruyuki; JP
Agent:
木村 満 KIMURA Mitsuru; JP
Priority Data:
Title (EN) SIGNAL PROCESSING DEVICE AND TESTING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE SIGNAL ET PROCÉDÉ DE TEST
(JA) 信号処理装置及び試験方法
Abstract:
(EN) This signal processing device (10) comprises an A/D conversion unit (14), a test signal supply unit (12), a determination unit (15), and an output unit (16). The A/D conversion unit (14) converts an analog signal into a digital signal and outputs the digital signal. The test signal supply unit (12) supplies an analog test signal corresponding to a test bit pattern to the A/D conversion unit (14). When the level of the analog test signal supplied to the A/D conversion unit (14) has switched, the determination unit (15) determines whether test bit values of the digital signal that has been converted and output by the A/D conversion unit (14) differ from before and after the switching of the level of the analog test signal. The output unit (16) outputs the results of the determination by the determination unit (15).
(FR) Le dispositif de traitement de signal (10) de l’invention comprend une unité de conversion A/N (14), une unité de fourniture de signal de test (12), une unité de détermination (15) et une unité de sortie (16). L’unité de conversion A/N convertit un signal analogique en un signal numérique et délivre en sortie le signal numérique. L’unité de fourniture de signal de test (12) fournit à l’unité de conversion A/N (14) un signal de test analogique correspondant à un motif de bits de test. Lorsque le niveau du signal de test analogique fourni à l’unité de conversion A/N (14) a commuté, l’unité de détermination (15) détermine si des valeurs de bit de test du signal numérique qui a été converti et délivré en sortie par l’unité de conversion A/N (14) ont changé entre avant et après la commutation du niveau du signal de test analogique. L’unité de sortie (16) délivre en sortie les résultats de la détermination effectuée par l’unité de détermination (15).
(JA) 信号処理装置(10)は、AD変換部(14)と、試験信号供給部(12)と、判定部(15)と、出力部(16)と、を備える。AD変換部(14)は、アナログ信号をデジタル信号に変換して出力する。試験信号供給部(12)は、試験用ビットパターンに対応したアナログ試験信号をAD変換部(14)に供給する。判定部(15)は、AD変換部(14)に供給されるアナログ試験信号のレベルが切り替わった際、AD変換部(14)によって変換されて出力されるデジタル信号の試験対象であるビットの値が、アナログ試験信号のレベルの切り替わりの前後で切り替わるか否かを判定する。出力部(16)は、判定部(15)による判定の結果を出力する。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)