Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2019063745) APPARATUS FOR ANALYSING THE OPTICAL PROPERTIES OF A SAMPLE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2019/063745 International Application No.: PCT/EP2018/076370
Publication Date: 04.04.2019 International Filing Date: 27.09.2018
IPC:
G01N 21/03 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
01
Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
03
Cuvette constructions
Applicants:
ADVANCED NANO TECHNOLOGIES LIMITED [IE/IR]; Unit 2A Nangor Road Business Park Nangor Road Dublin 12, IE
Inventors:
MCMILLAN, Norman; IE
O'NEILL, Martina; IE
RIEDEL, Sven; DE
MCDONNELL, Liam; IE
Agent:
FRKELLY; 27 Clyde Road Dublin 4, IE
Priority Data:
1715670.427.09.2017GB
17193604.027.09.2017EP
Title (EN) APPARATUS FOR ANALYSING THE OPTICAL PROPERTIES OF A SAMPLE
(FR) APPAREIL D'ANALYSE DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES D'UN ÉCHANTILLON
Abstract:
(EN) An apparatus for analysing the optical properties of a sample comprises: a housing to receive a light source and a detector in predetermined positions; a sample locus defined relative to said housing and positioned such that when a light source and a detector are in said predetermined positions, the sample locus is subject to illumination by said light source and the detector is positioned to receive and detect light from the sample; a cover on the housing, the cover being movable in a hinged manner between an open position and a closed position, the cover having an internal face which encloses the sample locus when the cover is in the closed position; a sample-receiving surface for receiving a free-standing sample in liquid or semi-solid form, the sample-receiving surface being disposed on the internal face of the cover such that when the cover is in said open position the sample-receiving surface is exposed to and accessible by a user in a generally horizontal orientation for loading of a sample thereon; wherein when the cover is moved to said closed position it encloses said sample locus, with the sample-receiving surface being tilted away from the horizontal during said closing movement and the sample being retained thereon by surface tension or adhesion and brought to said sample locus in an enclosed environment.
(FR) L'invention concerne un appareil permettant d'analyser les propriétés optiques d'un échantillon et comprenant : un boîtier pour recevoir une source de lumière et un détecteur dans des positions prédéterminées ; un locus d'échantillon défini par rapport audit boîtier et positionné de telle sorte que, lorsqu'une source de lumière et un détecteur sont dans lesdites positions prédéterminées, le locus d'échantillon est soumis à un éclairage par ladite source de lumière et le détecteur est positionné pour recevoir et détecter la lumière provenant de l'échantillon ; un couvercle sur le boîtier, le couvercle étant mobile de manière articulée entre une position ouverte et une position fermée, le couvercle ayant une face interne qui enferme le locus d'échantillon lorsque le couvercle est dans la position fermée ; une surface de réception d'échantillon destinée à recevoir un échantillon autonome sous forme liquide ou semi-solide, la surface de réception d'échantillon étant disposée sur la face interne du couvercle de telle sorte que, lorsque le couvercle est dans ladite position ouverte, la surface de réception d'échantillon est exposée à un utilisateur et accessible par l'utilisateur dans une orientation généralement horizontale pour le chargement d'un échantillon sur ladite surface ; lorsque le couvercle est déplacé vers ladite position fermée, il enferme ledit locus d'échantillon, la surface de réception d'échantillon étant inclinée à l'opposé de l'horizontale pendant ledit mouvement de fermeture et l'échantillon étant retenu sur celle-ci par tension superficielle ou par adhérence et amené audit emplacement de locus d'échantillon dans un environnement fermé.
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)