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1. (WO2019046861) SYSTEM AND METHOD FOR MONITORING INTEGRITY OF A WELLBORE
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Pub. No.: WO/2019/046861 International Application No.: PCT/US2018/051189
Publication Date: 07.03.2019 International Filing Date: 14.09.2018
IPC:
G01V 5/08 (2006.01) ,E21B 47/00 (2006.01) ,G01N 23/203 (2006.01) ,G01T 1/20 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
V
GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
5
Prospecting or detecting by the use of nuclear radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
04
specially adapted for well-logging
08
using primary nuclear radiation sources or X-rays
E FIXED CONSTRUCTIONS
21
EARTH OR ROCK DRILLING; MINING
B
EARTH OR ROCK DRILLING; OBTAINING OIL, GAS, WATER, SOLUBLE OR MELTABLE MATERIALS OR A SLURRY OF MINERALS FROM WELLS
47
Survey of boreholes or wells
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23
Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by group G01N21/ or G01N22/159
20
by using diffraction of the radiation, e.g. for investigating crystal structure; by using reflection of the radiation
203
by measuring back scattering
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
T
MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
1
Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
16
Measuring radiation intensity
20
with scintillation detectors
Applicants:
GENERAL ELECTRIC COMPANY [US/US]; 1 River Road Schenectady, NY 1245, US
Inventors:
KASTEN, Ansas, Matthias; US
PRICE, John, Scott; US
CILIA, Juan, Pablo; US
WANG, Chengbao; US
ROSS, William, Robert; US
YANOFF, Brian, David; US
SOLOVIEV, Stanislav, Ivanovich; US
MANDAL, Sudeep; US
Agent:
POLLANDER, Laura L.; US
ZHANG, Douglas, D.; US
MIDGLEY, Stephen, G.; US
POLLANDER, Laura, L.; US
DIMAURO, Peter, T.; US
Priority Data:
15/688,10928.08.2017US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD FOR MONITORING INTEGRITY OF A WELLBORE
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ POUR SURVEILLER L'INTÉGRITÉ D'UN PUITS DE FORAGE
Abstract:
(EN) A detector assembly includes scintillators configured to generate a light signal in response to an impinging backscatter signal, where the scintillators are arranged in a first pattern, a plurality of first detectors, where each first detector is coupled to a scintillator and configured to receive a first portion of a light signal from that scintillator, and where the first detectors are arranged in a second pattern aligned with the first pattern, a plurality of second detectors, where each second detector is disposed adjacent a scintillator and configured to receive a second portion of the light signal from that scintillator, and where the plurality of second detectors is arranged in a third pattern, and a scintillator collimator including a plurality of openings and configured to selectively receive the backscatter signal, where the detector assembly is configured to provide depth resolution, azimuthal resolution, a defect type, a defect size, or combinations thereof.
(FR) La présente invention concerne un ensemble détecteur qui comprend des scintillateurs configurés pour générer un signal lumineux en réponse à un signal de rétrodiffusion incident, les scintillateurs étant agencés en un premier motif, une pluralité de premiers détecteurs, chaque premier détecteur étant couplé à un scintillateur et configuré pour recevoir une première partie d'un signal lumineux en provenance de ce scintillateur, et les premiers détecteurs étant agencés en un deuxième motif aligné avec le premier motif, une pluralité de seconds détecteurs, chaque second détecteur étant disposé de façon adjacente à un scintillateur et configuré pour recevoir une seconde partie du signal lumineux en provenance du scintillateur, et la pluralité de seconds détecteurs étant agencés en un troisième motif, et un collimateur de scintillateur comprenant une pluralité d'ouvertures et étant configuré pour recevoir sélectivement le signal de rétrodiffusion, l'ensemble détecteur étant configuré pour fournir une résolution de profondeur, une résolution azimutale, un type de défaut, une taille de défaut, ou des associations de ceux-ci.
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Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)