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1. (WO2019043858) ATOMIC ABSORPTION SPECTROPHOTOMETER AND ATOMIC ABSORPTION MEASUREMENT METHOD
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Pub. No.: WO/2019/043858 International Application No.: PCT/JP2017/031307
Publication Date: 07.03.2019 International Filing Date: 31.08.2017
IPC:
G01N 21/31 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
17
Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25
Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
31
Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
Applicants:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
Inventors:
杉原 加寿雄 SUGIHARA, Kazuo; JP
Agent:
吉本 力 YOSHIMOTO, Tsutomu; JP
新宅 将人 SHINTAKU, Masato; JP
Priority Data:
Title (EN) ATOMIC ABSORPTION SPECTROPHOTOMETER AND ATOMIC ABSORPTION MEASUREMENT METHOD
(FR) SPECTROPHOTOMÈTRE D'ABSORPTION ATOMIQUE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE L'ABSORPTION ATOMIQUE
(JA) 原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法
Abstract:
(EN) In the present invention, a storage unit 18 stores a first calibration curve and second calibration curve. The first calibration curve represents the relationship between the absorbance when light of a wavelength λ1 is irradiated onto a first standard sample and the concentration of a component of interest in the first standard sample. The second calibration curve represents the relationship between the absorbance when light of a wavelength λ2 is irradiated onto a second standard sample having a higher concentration than the first standard sample and the concentration of the component of interest in the second standard sample. If the absorbance when the light of the wavelength λ1 is irradiated onto an unknown sample is less than a threshold, a concentration measurement processing unit 153 measures the concentration of the component of interest in the unknown sample on the basis of the absorbance when the light of the wavelength λ1 is irradiated onto the unknown sample and the first calibration curve. If the absorbance when the light of the wavelength λ1 is irradiated onto the unknown sample is greater than or equal to the threshold, the concentration measurement processing unit 153 measures the concentration of the component of interest in the unknown sample on the basis of the absorbance when the light of the wavelength λ2 is irradiated onto the unknown sample and the second calibration curve.
(FR) Dans la présente invention, une unité de stockage 18 stocke une première courbe d'étalonnage et une seconde courbe d'étalonnage. La première courbe d'étalonnage représente la relation entre l'absorbance lorsque de la lumière de longueur d'onde lambda λ1 est irradiée sur un premier échantillon standard et la concentration d'un composant d'intérêt dans le premier échantillon standard. La seconde courbe d'étalonnage représente la relation entre l'absorbance lorsque de la lumière de longueur d'onde λ2 est irradiée sur un second échantillon standard présentant une concentration plus élevée que le premier échantillon standard et la concentration du composant d'intérêt dans le second échantillon standard. Si l'absorbance lorsque la lumière de longueur d'onde lambda λ1 est irradiée sur un échantillon inconnu est inférieure à un seuil, une unité de traitement de mesure de concentration 153 mesure la concentration du composant d'intérêt dans l'échantillon inconnu sur la base de l'absorbance lorsque la lumière de longueur d'onde lambda λ1 est irradiée sur l'échantillon inconnu et la première courbe d'étalonnage. Si l'absorbance lorsque la lumière de longueur d'onde λ1 est irradiée sur l'échantillon inconnu est supérieure ou égale au seuil, l'unité de traitement de mesure de concentration 153 mesure la concentration du composant d'intérêt dans l'échantillon inconnu sur la base de l'absorbance lorsque la lumière de la longueur d'onde lambda λ2 est irradiée sur l'échantillon inconnu et la seconde courbe d'étalonnage.
(JA) 記憶部18は、第1検量線及び第2検量線を記憶する。第1検量線は、波長λの光を第1標準試料に照射したときの吸光度と第1標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す。第2検量線は、波長λの光を第1標準試料よりも高濃度の第2標準試料に照射したときの吸光度と第2標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す。濃度測定処理部153は、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度と第1検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する。また、濃度測定処理部153は、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合には、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度と第2検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)