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1. (WO2019042097) OPTIMIZATION METHOD AND DEVICE FOR SYSTEM PARAMETER DESIGN SPACE
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Pub. No.: WO/2019/042097 International Application No.: PCT/CN2018/099272
Publication Date: 07.03.2019 International Filing Date: 08.08.2018
IPC:
G06N 5/02 (2006.01)
G PHYSICS
06
COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
N
COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
5
Computer systems utilizing knowledge based models
02
Knowledge representation
Applicants:
江苏康缘药业股份有限公司 JIANGSU KANION PHARMACEUTICAL CO., LTD [CN/CN]; 中国江苏省连云港市 经济技术开发区江宁工业城 Jiangning Industrial City, Economic and Technological Development Zone Lianyungang, Jiangsu 222047, CN
浙江大学 ZHEJIANG UNIVERSITY [CN/CN]; 中国浙江省杭州市 西湖区余杭塘路866号 866 Yuhangtang Road, Xihu District Hangzhou, Zhejiang 310058, CN
Inventors:
肖伟 XIAO, Wei; CN
刘雪松 LIU, Xuesong; CN
凌娅 LING, Ya; CN
陈勇 CHEN, Yong; CN
王振中 WANG, Zhenzhong; CN
姜晓红 JIANG, Xiaohong; CN
李页瑞 LI, Yerui; CN
包乐伟 BAO, Lewei; CN
章晨峰 ZHANG, Chenfeng; CN
王磊 WANG, Lei; CN
陈永杰 CHEN, Yongjie; CN
Agent:
苏州创元专利商标事务所有限公司 SUZHOU CREATOR PATENT & TRADEMARK AGENCY LTD.; 中国江苏省苏州市 干将西路93号 No.93 Ganjiang West Road Suzhou, Jiangsu 215002, CN
Priority Data:
201710771774.831.08.2017CN
Title (EN) OPTIMIZATION METHOD AND DEVICE FOR SYSTEM PARAMETER DESIGN SPACE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'OPTIMISATION POUR ESPACE DE CONCEPTION DE PARAMÈTRE DE SYSTÈME
(ZH) 系统参数设计空间优化方法及装置
Abstract:
(EN) The present invention discloses an optimization method and device for a system parameter design space. The optimization method comprises: acquiring process parameter data, the process parameters comprising quality parameters of an intermediate product of a previous working section; selecting a type of critical quality attributes according to a working section production condition; screening out process parameters related to the critical quality attributes as critical process parameters; establishing a relation model between the critical process parameters and the critical quality attributes; and acquiring a design space according to the relation model, the design space being a specific range corresponding to the critical quality attributes. The present invention achieves system parameter design space optimization by screening out critical process parameters related to critical quality attributes and establishing a relation model therebetween, and thus provides an effective and reliable solution for parameter release.
(FR) La présente invention concerne un procédé et un dispositif d'optimisation pour un espace de conception de paramètre de système. Le procédé d'optimisation comprend : l'acquisition de données de paramètres de processus, les paramètres de processus comprenant des paramètres de qualité d'un produit intermédiaire d'une section de travail précédente ; la sélection d'un type d'attributs de qualité critique selon une condition de production de section de travail ; la sélection de paramètres de processus associés aux attributs de qualité critique en tant que paramètres de processus critique ; l'établissement d'un modèle de relation entre les paramètres de processus critique et les attributs de qualité critique ; et l'acquisition d'un espace de conception selon le modèle de relation, l'espace de conception étant une plage spécifique correspondant aux attributs de qualité critique. La présente invention permet d'obtenir une optimisation d'espace de conception de paramètre de système en analysant des paramètres de processus critique liés à des attributs de qualité critique et en établissant un modèle de relation entre eux, et fournit ainsi une solution efficace et fiable pour la libération de paramètre.
(ZH) 本发明公开了一种系统参数设计空间优化方法及装置,所述优化方法包括:获取过程参数数据,所述过程参数包括上一工段的中间体的质量参数;根据工段生产情况,选择关键质量属性的类型;筛选与所述关键质量属性相关的过程参数,作为关键过程参数;建立所述关键过程参数与关键质量属性之间的关系模型;根据所述关系模型,获取设计空间,所述设计空间为对应于所述关键质量属性的特定区间范围。本发明通过筛选出与关键质量属性相关的关键过程参数,并建立两者的关系模型,优化系统参数设计空间,为参数放行提供一种有效、可靠的解决方案。
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)