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1. (WO2019041868) PHASED ARRAY CALIBRATION METHOD AND CALIBRATION APPARATUS
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Pub. No.: WO/2019/041868 International Application No.: PCT/CN2018/085202
Publication Date: 07.03.2019 International Filing Date: 28.04.2018
IPC:
G01R 29/10 (2006.01) ,G01R 29/08 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
29
Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/-G01R27/135
08
Measuring electromagnetic field characteristics
10
Radiation diagrams of aerials
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
29
Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/-G01R27/135
08
Measuring electromagnetic field characteristics
Applicants:
华为技术有限公司 HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳市 龙岗区坂田华为总部办公楼 Huawei Administration Building, Bantian, Longgang District Shenzhen, Guangdong 518129, CN
Inventors:
葛广顶 GE, Guangding; CN
赵旭波 ZHAO, Xubo; CN
赵德双 ZHAO, Deshuang; CN
Priority Data:
201710786716.204.09.2017CN
Title (EN) PHASED ARRAY CALIBRATION METHOD AND CALIBRATION APPARATUS
(FR) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE ET APPAREIL D'ÉTALONNAGE DE RÉSEAU À COMMANDE DE PHASE
(ZH) 一种相控阵校测的方法以及校测装置
Abstract:
(EN) Disclosed in the application is a phased array calibration method. The method is applied to a calibration device comprising a first phased array and a second phased array. The first phased array comprises a first RF channel and the second phased array comprises a second RF channel. The topological structure of the first RF channel and the topological structure of the second RF channel forms a mirror symmetry relationship. The radiation array face of the second phased array and the radiation array face of the first phased array are spaced at a sub-wavelength distance. A coupling signal transmitted through the first RF channel is received by means of the second RF channel; determining, according to the coupling signal, an amplitude deviation value and a phase deviation value corresponding to the first RF channel; if a preset error correction condition is satisfied, correcting an amplitude coefficient and phase coefficient corresponding to the first RF channel; and by means of a target amplitude coefficient and a target phase coefficient, measuring a performance index parameter of the first phased array. Also disclosed in the invention is a calibration apparatus. According to the disclosure, rapid amplitude and phase correction on all RF channels of a to-be-calibrated phased array is realized; the detection efficiency is improved; the occupied area is reduced; and the cost is lowered.
(FR) La présente invention concerne un procédé d'étalonnage de réseau à commande de phase. Le procédé est appliqué à un dispositif d'étalonnage comprenant un premier réseau à commande de phase et un deuxième réseau à commande de phase. Le premier réseau à commande de phase comprend un premier canal RF et le deuxième réseau à commande de phase comprend un deuxième canal RF. La structure topologique du premier canal RF et la structure topologique du deuxième canal RF forment une relation de symétrie spéculaire. La face de réseau de rayonnement du deuxième réseau à commande de phase et la face de réseau de rayonnement du premier réseau à commande de phase sont espacées à une distance de sous-longueur d'onde. Le procédé comprend les étapes suivantes : la réception d'un signal de couplage émis par l'intermédiaire du premier canal RF au moyen du deuxième canal RF; la détermination, en fonction du signal de couplage, d'une valeur d'écart d'amplitude et d'une valeur d'écart de phase correspondant au premier canal RF; si une condition de correction d'erreur prédéfinie est satisfaite, la correction d'un coefficient d'amplitude et d'un coefficient de phase correspondant au premier canal RF; et au moyen d'un coefficient d'amplitude cible et d'un coefficient de phase cible, la mesure d'un paramètre d'indice de performance du premier réseau à commande de phase. L'invention concerne en outre un appareil d'étalonnage. Selon la présente invention, une correction rapide d'amplitude et de phase sur tous les canaux RF d'un réseau à commande de phase à étalonner est réalisée; l'efficacité de détection est améliorée; l'aire occupée est réduite; et le coût est réduit.
(ZH) 本申请公开了一种相控阵校测的方法,该方法应用于校测装置,包含第一相控阵和第二相控阵,第一相控阵包含第一射频RF通道,第二相控阵包含第二RF通道,第一RF通道的拓扑结构与第二RF通道的拓扑结构具有镜像对称关系,第二相控阵的辐射阵面与第一相控阵的辐射阵面间隔亚波长距离,通过第二RF通道接收通过第一RF通道发送的耦合信号;根据耦合信号确定第一RF通道对应的幅度偏差值以及相位偏差值;若满足预设误差校正条件,则对第一RF通道所对应的幅度系数与相位系数进行校正;采用目标幅度系数以及目标相位系数测量第一相控阵的性能指标参数。本申请公开了一种校测装置。本申请可以对待测相控阵的全部RF通道进行快速幅相校正,提升检测效率,减小占地面积,降低成本。
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)