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1. (WO2019041734) METHOD AND APPARATUS FOR MINING POTENTIAL PROCESS PARAMETERS
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Pub. No.: WO/2019/041734 International Application No.: PCT/CN2018/073667
Publication Date: 07.03.2019 International Filing Date: 22.01.2018
IPC:
G06Q 50/04 (2012.01) ,G06N 5/02 (2006.01)
G PHYSICS
06
COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
Q
DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
50
Systems or methods specially adapted for a specific business sector, e.g. utilities or tourism
04
Manufacturing
G PHYSICS
06
COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
N
COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
5
Computer systems utilizing knowledge based models
02
Knowledge representation
Applicants:
江苏康缘药业股份有限公司 JIANGSU KANION PHARMACEUTICAL CO., LTD. [CN/CN]; 中国江苏省连云港市 经济技术开发区江宁工业城 Jiangning Industrial City Economic and Technological Development Zone Lianyungang, Jiangsu 222047, CN
浙江大学 ZHEJIANG UNIVERSITY [CN/CN]; 中国浙江省杭州市 西湖区余杭塘路866号 866 Yuhangtang Road, Xihu Hangzhou, Zhejiang 310058, CN
Inventors:
萧伟 XIAO, Wei; CN
刘雪松 LIU, Xuesong; CN
凌娅 LING, Ya; CN
陈勇 CHEN, Yong; CN
王振中 WANG, Zhenzhong; CN
姜晓红 JIANG, Xiaohong; CN
毕宇安 BI, Yu'an; CN
李页瑞 LI, Yerui; CN
包乐伟 BAO, Lewei; CN
章晨峰 ZHANG, Chenfeng; CN
王磊 WANG, Lei; CN
陈永杰 CHEN, Yongjie; CN
Agent:
苏州创元专利商标事务所有限公司 SUZHOU CREATOR PATENT & TRADEMARK AGENCY LTD.; 中国江苏省苏州市 干将西路93号 No. 93 Ganjiang West Road Suzhou, Jiangsu 215002, CN
Priority Data:
201710770966.731.08.2017CN
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR MINING POTENTIAL PROCESS PARAMETERS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL D'ANALYSE DE PARAMÈTRES DE PROCÉDÉ POSSIBLES
(ZH) 潜在过程参数挖掘方法及装置
Abstract:
(EN) Disclosed are a method and apparatus for mining potential process parameters. The mining method comprises: receiving a potential process parameter mining request, the request comprising workshop section condition information corresponding to a design space; obtaining key quality attributes corresponding to a workshop section and drawing up a set of potential process parameters according to the workshop section condition information; performing a first test on the drawn up potential process parameters to obtain a plurality of process parameters; performing a second test on the process parameters to obtain the potential process parameters to be verified; and verifying the potential process parameters to be verified to obtain the potential process parameters. According to the present invention, the potential process parameters to be verified related to the key quality attributes are screened out by testing the potential process parameters, and the design space is updated and optimized by using the potential process parameters to be verified, so as to provide an effective and reliable solution for parametric release.
(FR) La présente invention concerne un procédé et un appareil d'analyse de paramètres de procédé possibles. Le procédé d'analyse consiste : à recevoir une demande d'analyse de paramètres de procédé possibles, la demande comprenant des informations d'état de section d'atelier correspondant à un espace de conception ; à obtenir des attributs de qualité essentiels correspondant à une section d'atelier et à établir un ensemble de paramètres de procédé possibles en fonction des informations d'état de section d'atelier ; à réaliser un premier essai sur les paramètres de procédé possibles établis afin d'obtenir une pluralité de paramètres de procédé ; à réaliser un second essai sur les paramètres de procédé afin d'obtenir les paramètres de procédé possibles à vérifier ; et à vérifier les paramètres de procédé possibles à vérifier afin d'obtenir les paramètres de procédé possibles. Selon la présente invention, la mise à l'essai des paramètres de procédé possibles permet de filtrer les paramètres de procédé possibles à vérifier associés aux attributs de qualité essentiels, et l'espace de conception est mis à jour et optimisé à l'aide des paramètres de procédé possibles à vérifier, afin d'offrir une solution efficace et fiable pour une libération paramétrique.
(ZH) 本发明公开了一种潜在过程参数挖掘方法及装置,所述挖掘方法包括:接收潜在过程参数挖掘请求,所述请求包括设计空间对应的工段条件信息;根据所述工段条件信息,获取与工段对应的关键质量属性及拟定潜在过程参数集合;对拟定的潜在过程参数进行第一测试,得到多个过程参数;对所述过程参数进行第二测试,得到待验证潜在过程参数;对待验证潜在过程参数进行验证,得到潜在过程参数。本发明通过对潜在过程参数进行测试,筛选出与关键质量属性相关的待验证潜在过程参数,并利用待验证潜在过程参数更新优化设计空间,为参数放行提供一种有效、可靠的解决方案。
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)