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1. (WO2019041697) LOSS TEST PROBE
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Pub. No.: WO/2019/041697 International Application No.: PCT/CN2017/119300
Publication Date: 07.03.2019 International Filing Date: 28.12.2017
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31
Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28
Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
Applicants:
郑州云海信息技术有限公司 ZHENGZHOU YUNHAI INFORMATION TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国河南省郑州市 郑东新区心怡路278号基运投资大厦16层 16th Floor Jiyuntouzi Building No.278 Xinyi Road, Zheng Dong New District Zhengzhou, Henan 450018, CN
Inventors:
朱黎 ZHU, Li; CN
郝延飞 HAO, Yanfei; CN
Agent:
北京集佳知识产权代理有限公司 UNITALEN ATTORNEYS AT LAW; 中国北京市 朝阳区建国门外大街22号赛特广场7层 7th Floor, Scitech Place No.22, Jian Guo Men Wai Ave., Chao Yang District Beijing 100004, CN
Priority Data:
201710774699.031.08.2017CN
Title (EN) LOSS TEST PROBE
(FR) SONDE DE TEST DE PERTE
(ZH) 一种损耗测试探头
Abstract:
(EN) Disclosed is a loss test probe. A lateral portion of a weight placement holder (1) is fixedly connected to a lateral portion of an SMA connector fixing platform (2). An SMA connector fixing hole (8) is provided in the SMA connector fixing platform (2), and a connector fixing device (3) is provided at a position, close to a hole wall, in the SMA connector fixing hole (8). An SMA connector (6) passes through the SMA connector fixing hole (8) and is fixedly arranged on the SMA connector fixing platform (2) by means of the connector fixing device (3). The loss test probe uses the SMA connector (6) to perform a test, and the accurate positioning of the SMA connector (6) in a direction perpendicular to a horizontal direction is realized by means of the SMA connector fixing platform (2) and a gravitational weight assembly. By means of the gravitational weight, the stable contact between the SMA connector (6) and a PCB card can be can realized, and the operation steps of the loss test performed by the SMA connector (6) can be simplified, thereby reducing the test time and physical effort and improving the test efficiency, as well as improving the test precision, thus solving the inherent problem of a low utilization rate of the SMA connector (6).
(FR) L'invention concerne une sonde de test de perte. Une partie latérale d'un support de placement de poids (1) est reliée de manière fixe à une partie latérale d'une plateforme de fixation de connecteur SMA (2). Un trou de fixation de connecteur SMA (8) est situé dans la plateforme de fixation de connecteur SMA (2), et un dispositif de fixation de connecteur (3) est situé à une position, proche d'une paroi de trou, dans le trou de fixation de connecteur SMA (8). Un connecteur SMA (6) passe à travers le trou de fixation de connecteur SMA (8) et est disposé de manière fixe sur la plateforme de fixation de connecteur SMA (2) au moyen du dispositif de fixation de connecteur (3). La sonde de test de perte utilise le connecteur SMA (6) pour effectuer un test, et le positionnement précis du connecteur SMA (6) dans une direction perpendiculaire à une direction horizontale est réalisé au moyen de la plate forme de fixation de connecteur SMA (2) et d'un ensemble poids gravitationnel. Grâce au poids gravitationnel, le contact stable entre le connecteur SMA (6) et une carte PCB peut être réalisé, et les étapes de fonctionnement du test de perte effectuées par le connecteur SMA (6) peuvent être simplifiées, ce qui permet de réduire le temps de test et l'effort physique et d'améliorer l'efficacité de test, ainsi que d'améliorer la précision de test, ce qui permet de résoudre le problème inhérent d'un faible taux d'utilisation du connecteur SMA (6).
(ZH) 一种损耗测试探头,砝码安置座(1)的侧部与SMA连接器固定台(2)的侧部固连;SMA连接器固定台(2)设有SMA连接器固定孔(8),SMA连接器固定孔(8)的靠近孔壁位置设有连接器固定装置(3);SMA连接器(6)穿过SMA连接器固定孔(8),通过连接器固定装置(3)固设在SMA连接器固定台(2)上。损耗测试探头采用SMA连接器(6)测试,通过SMA连接器固定台(2)和重力砝码组件实现对SMA连接器(6)垂直于水平方向的准确定位。重力砝码可实现SMA连接器(6)与PCB板卡的稳定接触,可简化了SMA连接器(6)损耗测试的操作步骤,节省测试时间与体力,提高测试效率,同时提高了测试精度,解决了SMA连接器(6)的利用率低的本质问题。
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)