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1. (WO2019030476) ION INJECTION INTO MULTI-PASS MASS SPECTROMETERS
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Pub. No.: WO/2019/030476 International Application No.: PCT/GB2018/052104
Publication Date: 14.02.2019 International Filing Date: 26.07.2018
IPC:
H01J 49/40 (2006.01) ,H01J 49/06 (2006.01)
H ELECTRICITY
01
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
J
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49
Particle spectrometers or separator tubes
26
Mass spectrometers or separator tubes
34
Dynamic spectrometers
40
Time-of-flight spectrometers
H ELECTRICITY
01
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
J
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49
Particle spectrometers or separator tubes
02
Details
06
Electron- or ion-optical arrangements
Applicants:
VERENCHIKOV, Anatoly [ME/ME]; ME (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JO, JP, KE, KG, KH, KM, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
MICROMASS UK LIMITED [GB/GB]; Stamford Avenue Altrincham Road Wilmslow Cheshire SK9 4AX, GB (MG)
Inventors:
VERENCHIKOV, Anatoly; ME
Agent:
CHIVA, Andrew Peter; GB
Priority Data:
1712612.906.08.2017GB
1712613.706.08.2017GB
1712614.506.08.2017GB
1712616.006.08.2017GB
1712617.806.08.2017GB
1712618.606.08.2017GB
1712619.406.08.2017GB
Title (EN) ION INJECTION INTO MULTI-PASS MASS SPECTROMETERS
(FR) INJECTION D'IONS DANS DES SPECTROMÈTRES DE MASSE À PASSAGES MULTIPLES
Abstract:
(EN) An improved multi-pass time-of-flight or electrostatic trap mass spectrometer (70) with an orthogonal accelerator, applicable to mirror based multi-reflecting (MR) or multi-turn (MT) analyzers. The orthogonal accelerator (64) is tilted and after first ion reflection or turn the ion packets are back deflected with a compensated deflector (40) by the same angle α to compensate for the time-front steering and for the chromatic angular spreads. The focal distance of deflector (40) is control by Matsuda plates or other means for producing quadrupolar field in the deflector. Interference with the detector rim is improved with dual deflector (68). The proposed improvements allow substantial extension of flight path and number of ion turns or reflections. The problems of analyzer angular misalignments by tilting of ion mirror (71) is compensated by electrical adjustments of ion beam (63) energy and deflection angles in deflectors (40) and (68).
(FR) L'invention concerne un spectromètre de masse à temps de vol ou à piège électrostatique à passages multiples amélioré (70) avec un accélérateur orthogonal, applicable à des analyseurs multiréfléchissants (MR) ou multitours (MT) basés sur un miroir. L'accélérateur orthogonal (64) est incliné et après une première réflexion d'ions ou tour, les paquets d'ions, sont déviés vers l'arrière avec un déflecteur compensé (40) par le même angle α pour compenser la direction de front temporel et pour les dispersions angulaires chromatiques. La distance focale du déflecteur (40) est commandée par des plaques de Matsuda ou d'autres moyens pour produire un champ quadripolaire dans le déflecteur. L'interférence avec le rebord du détecteur est améliorée avec un double déflecteur (68). Les améliorations proposées permettent une extension substantielle du trajet de vol et du nombre de tours d'ions ou de réflexions. Les problèmes des désalignements angulaires d'analyseur par inclinaison du miroir d'ions (71) sont compensés par des ajustements électriques d'énergie de faisceau d'ions (63) et d'angles de déviation dans des déflecteurs (40) et (68).
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)