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1. (WO2019027761) X-RAY TRANSMISSION SPECTROMETER SYSTEM
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Pub. No.: WO/2019/027761 International Application No.: PCT/US2018/043667
Publication Date: 07.02.2019 International Filing Date: 25.07.2018
IPC:
G01N 23/083 (2018.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23
Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by group G01N21/ or G01N22/159
02
by transmitting the radiation through the material
06
and measuring the absorption
08
using electric detection means
083
the radiation being X-rays
Applicants:
SIGRAY, INC. [US/US]; 5750 Imhoff Drive Suite I Concord, California 94520, US
Inventors:
YUN, Wenbing; US
SESHADRI, Srivatsan; US
KIRZ, Janos; US
LEWIS, Sylvia, Jia, Yun; US
Agent:
ALTMAN, Daniel, E.; US
Priority Data:
15/663,83131.07.2017US
Title (EN) X-RAY TRANSMISSION SPECTROMETER SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE SPECTROMÈTRE À TRANSMISSION DE RAYONS X
Abstract:
(EN) An x-ray transmission spectrometer system to be used with a compact x-ray source to measure x-ray absorption with both high spatial and high spectral resolution. The spectrometer system comprises a compact high brightness x-ray source, an optical system with a low pass spectral filter property to focus the x-rays through an object to be examined, and a spectrometer comprising a crystal analyzer (and, in some embodiments, a mosaic crystal) to disperse the transmitted beam, and in some instances an array detector. The high brightness/high flux x-ray source may have a take-off angle between 0 and 15 degrees, and be coupled to an optical system that collects and focuses the high flux x-rays to micron-scale spots, leading to high flux density. The x-ray optical system may also act as a "low-pass" filter, allowing a predetermined bandwidth of x-rays to be observed at one time while excluding the higher harmonics.
(FR) L’invention concerne un système de spectromètre à transmission de rayons X destiné à être utilisé avec une source de rayons X compacte pour mesurer l’absorption de rayons X avec à la fois une résolution spatiale élevée et une résolution spectrale élevée. Ce système de spectromètre comprend une source de rayons X compacte à haute luminosité, un système optique ayant une propriété de filtre spectral passe-bas pour concentrer les rayons X à travers un objet à examiner, ainsi qu’un spectromètre comprenant un cristal analyseur (et, selon certains modes de réalisation, un cristal mosaïque) pour disperser le faisceau transmis, et dans certains cas un détecteur à réseau. La source de rayons X à haute luminosité/flux élevé peut avoir un angle de prise compris entre 0 et 15 degrés et être couplée à un système optique qui collecte et concentre les rayons X à flux élevé vers des points à l'échelle micronique, de sorte que l’on obtient une densité de flux élevée. Le système optique à rayons X peut également jouer le rôle d'un filtre «passe-bas», de sorte qu’une largeur de bande prédéterminée de rayons X peut être observée en une seule fois tout en excluant les harmoniques supérieures.
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)