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1. (WO2019026817) MARKER UNIT
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Pub. No.: WO/2019/026817 International Application No.: PCT/JP2018/028368
Publication Date: 07.02.2019 International Filing Date: 30.07.2018
IPC:
G01B 11/00 (2006.01) ,G01B 11/26 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11
Measuring arrangements characterised by the use of optical means
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11
Measuring arrangements characterised by the use of optical means
26
for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
Applicants:
株式会社エンプラス ENPLAS CORPORATION [JP/JP]; 埼玉県川口市並木2丁目30番1号 2-30-1, Namiki, Kawaguchi-shi, Saitama 3320034, JP
Inventors:
斉藤 共啓 SAITO Tomohiro; JP
福田 康幸 FUKUDA Yasuyuki; JP
Agent:
辻丸 光一郎 TSUJIMARU Koichiro; JP
中山 ゆみ NAKAYAMA Yumi; JP
伊佐治 創 ISAJI Hajime; JP
南野 研人 MINAMINO Kento; JP
Priority Data:
2017-14830631.07.2017JP
Title (EN) MARKER UNIT
(FR) UNITÉ DE MARQUEUR
(JA) マーカユニット
Abstract:
(EN) The present invention provides, for example, a marker unit that can be easily installed on the same object with the same conditions. This marker unit is characterized by being a stacked body which includes an upper base plate and a lower base plate and in which the upper base plate is stacked on the lower base plate, and in that: the lower base plate has, on the upper surface thereof, a lower-base-plate part to be detected that is exposed on the upper-surface side of the stacked body, and has, on the lower surface thereof, two or more position determination parts; the part to be detected can be detected from the upper-surface side of the stacked body; the position determination parts are visible from the direction of a lateral surface of the stacked body but not visible from the direction of the upper surface of the stacked body; and the position determination parts are disposed at positions on the lower base plate such that when the stacked body is installed on a body for installation, the position determination parts overlap with marks on the body for installation that are for aligning the marker unit, as viewed from the direction of the lateral surface.
(FR) La présente invention concerne, par exemple, une unité de marqueur qui peut être aisément installée sur le même objet dans les mêmes conditions. Cette unité de marqueur est caractérisée en ce qu’elle est un corps empilé qui comprend une plaque de base supérieure et une plaque de base inférieure et dans laquelle la plaque de base supérieure est empilée sur la plaque de base inférieure, et en ce que : la plaque de base inférieure comporte, sur la surface supérieure de celle-ci, une partie de plaque de base inférieure à détecter qui est exposée sur le côté de surface supérieure du corps empilé, et a, sur sa surface inférieure, au moins deux parties de détermination de position ; la partie à détecter peut être détectée depuis le côté de surface supérieure du corps empilé ; les parties de détermination de position sont visibles depuis la direction d’une surface latérale du corps empilé mais non visibles depuis la direction de la surface supérieure du corps empilé ; et les parties de détermination de position sont disposées à des positions sur la plaque de base inférieure de sorte que, lorsque le corps empilé est installé sur un corps pour installation, les parties de détermination de position se chevauchent avec des marques sur le corps pour une installation qui sont destinées à aligner l’unité de marqueur, telle qu’observée depuis la direction de la surface latérale.
(JA) 本発明は、例えば、同じ対象物に対して、同じ条件で容易に設置することが可能なマーカユニットを提供する。 本発明のマーカユニットは、上基板と、下基板とを含み、前記下基板の上に、前記上基板が積層された積層体であり、前記下基板は、その上面に、前記積層体の上面側に露出した下基板被検出部を有し、その下面に、2個以上の位置決定部を有し、前記被検出部は、前記積層体の上面側から検出可能であり、前記各位置決定部は、前記積層体の側面方向から視認可能であり、前記積層体の上面方向から視認不可であり、前記下基板において前記各位置決定部は、前記積層体を被設置体に設置した場合に、前記側面方向からの視認により、前記被設置体におけるマーカユニットの位置合わせ印と重なる位置に配置されていることを特徴とする。
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)