Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2019025037) A METHOD AND AN APPARATUS FOR REDUCING THE EFFECT OF LOCAL PROCESS VARIATIONS OF A DIGITAL CIRCUIT ON A HARDWARE PERFORMANCE MONITOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2019/025037 International Application No.: PCT/EP2018/059135
Publication Date: 07.02.2019 International Filing Date: 10.04.2018
IPC:
G06F 17/50 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01)
G PHYSICS
06
COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
F
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
17
Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
50
Computer-aided design
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31
Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28
Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
Applicants:
RACYICS GMBH [DE/DE]; Bergstr. 56 01069 Dresden, DE
Inventors:
HÖPPNER, Sebastian; DE
SCHREITER, Jörg; DE
Agent:
ADLER, Peter; DE
Priority Data:
10 2017 117 745.004.08.2017DE
10 2017 117 772.804.08.2017DE
10 2017 119 111.922.08.2017DE
10 2017 125 203.727.10.2017DE
Title (EN) A METHOD AND AN APPARATUS FOR REDUCING THE EFFECT OF LOCAL PROCESS VARIATIONS OF A DIGITAL CIRCUIT ON A HARDWARE PERFORMANCE MONITOR
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR RÉDUIRE L'EFFET DE VARIATIONS DE PROCESSUS LOCALES D'UN CIRCUIT NUMÉRIQUE SUR UN DISPOSITIF DE SURVEILLANCE DE PERFORMANCES MATÉRIELLES
Abstract:
(EN) The invention discloses a method and an apparatus for reducing the effect of local process variations of a digital circuit on a hardware performance monitor. The object of the invention to find a method and apparatus which both are able to reduce the mismatch between the read-out hardware performance monitor circuit and the design which is to be monitored as well as to minimize additional hardware effort and energy overhead for compensation of local variations will be solved by the following steps: - measuring a set of performance values cn of the digital circuit by n identical hardware performance monitors, whereas n is a natural number greater than 1, - determining an average value cmean of the measured performance values cn, as an approximation of an ideal performance value c0, - selecting one performance value cj of the set of performance values cn by a signal converter, - comparing the performance value cj with a reference value cref by a controller, resulting in a deviation value ∆c, - controlling an actuator by using the deviation ∆c for regulating the local global process variations to the approximation cmean of the ideal performance value c0.
(FR) L'invention concerne un procédé et un appareil pour réduire l'effet de variations de processus locales d'un circuit numérique sur un dispositif de surveillance de performances matérielles. L'objectif de l'invention, qui est de trouver un procédé et un appareil permettant à la fois de réduire la désadaptation entre le circuit de surveillance de performances matérielles de lecture et la conception qui doit être surveillée, et de réduire au minimum l'effort matériel supplémentaire et le supplément d'énergie pour la compensation de variations locales, sera atteint par les étapes suivantes : - mesurer un ensemble de valeurs de performances cn du circuit numérique par n dispositifs de surveillance de performances matérielles identiques, n étant un entier naturel supérieur à 1, - déterminer une valeur moyenne cmean des valeurs de performances mesurées cn, en tant qu'approximation d'une valeur de performances idéale c0, - sélectionner une valeur de performances cj de l'ensemble de valeurs de performances cn par un convertisseur de signal, - comparer la valeur de performances cj à une valeur de référence cref par un contrôleur, ce qui permet d'obtenir une valeur d'écart ∆c, - commander un actionneur à l'aide de l'écart ∆c pour réguler les variations de processus globales locales à l'approximation cmean de la valeur de performances idéale c0.
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)