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1. (WO2019024360) PROBE CHANGING DEVICE AND PCB IMPEDANCE TESTER
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Pub. No.: WO/2019/024360 International Application No.: PCT/CN2017/114423
Publication Date: 07.02.2019 International Filing Date: 04.12.2017
IPC:
G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 27/02 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1
Details of instruments or arrangements of the types covered by groups G01R5/-G01R13/122
02
General constructional details
06
Measuring leads; Measuring probes
067
Measuring probes
073
Multiple probes
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
27
Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
02
Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
Applicants:
南京协辰电子科技有限公司 JOINT STARS TECHNOLOGY CO., LTD [CN/CN]; 中国江苏省南京市 江宁经济技术开发区吉印大道3128号3幢 Building 3, No.3128 Jiyin Road, Economic & Technological Development Zone Nanjing, Jiangsu 211106, CN
Inventors:
宋卫华 SONG, Weihua; CN
叶宗顺 YE, Zongshun; CN
何凤雷 HE, Fenglei; CN
Agent:
北京三聚阳光知识产权代理有限公司 SUNSHINE INTELLECTUAL PROPERTY INTERNATIONAL CO., LTD; 中国北京市 海淀区海淀南路甲21号中关村知识产权大厦A座5层503 Room 503, Floor 5, Tower A No. 21, A, Haidian South Road Zhongguancun Intellectual Property Building Haidian District, Beijing 100080, CN
Priority Data:
201710648209.201.08.2017CN
Title (EN) PROBE CHANGING DEVICE AND PCB IMPEDANCE TESTER
(FR) DISPOSITIF DE CHANGEMENT DE SONDE ET TESTEUR D'IMPÉDANCE DE PCB
(ZH) 探针切换装置及PCB阻抗测试机
Abstract:
(EN) Provided are a probe changing device and a PCB impedance tester. The probe changing device comprises: a supporting body (10); a first probe portion configured to be movable relative to the supporting body (10), the first probe portion having at least two first detection positions, and the first probe portion being movable between and to the at least two detection positions; and at least two second probe portions configured to be movable relative to the supporting body (10), each second probe portion having a second detection position at which the second probe portion cooperates with the first probe portion and an averted position for avoiding the first probe portion and other second probe portions, and the second probe portion being movable between and to the second detection position and the averted position. The device effectively solves problems in the prior art in which a complicated process is required for detachment and change of a probe assembly and test precision is low, thereby realizing automatic testing.
(FR) L'invention concerne un dispositif de changement de sonde et un testeur d'impédance de PCB. Le dispositif de changement de sonde comprend : un corps de soutien (10) ; une première partie de sonde conçue pour être mobile par rapport au corps de soutien (10), la première partie de sonde présentant au moins deux premières positions de détection, et la première partie de sonde étant mobile entre lesdites positions de détection et jusqu'à ces dernières ; et au moins deux secondes parties de sonde conçues pour être mobiles par rapport au corps de soutien (10), chaque seconde partie de sonde présentant une seconde position de détection au niveau de laquelle la seconde partie de sonde coopère avec la première partie de sonde et une position d'évitement permettant d'éviter la première partie de sonde et d'autres secondes parties de sonde, et la seconde partie de sonde étant mobile entre la seconde position de détection et la position d'évitement et jusqu'a ces dernières. Le dispositif permet de résoudre efficacement les problèmes de l'état de la technique selon lesquels un processus compliqué est nécessaire pour le détachement et le changement d'un ensemble sonde et la précision de test est faible, et permet ainsi d'obtenir un test automatique.
(ZH) 一种探针切换装置及PCB阻抗测试机,该探针切换装置包括:支撑体(10);第一探针部,相对支撑体(10)可移动设置,第一探针部具有至少两个第一检测位置,第一探针部可在至少两个第一检测位置之间移动切换;至少两个第二探针部,相对支撑体(10)可移动设置,每个第二探针部具有与第一探针部配合的第二检测位置及避让第一探针部与其余的第二探针部配合的避让位置,第二探针部可在第二检测位置与避让位置之间移动切换。该装置有效的解决了现有技术中切换探针时需要更换探针组件拆卸繁琐、测试精度低的问题,可实现自动化测试。
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)