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1. (WO2019003337) PAINTING DEFECT INSPECTION DEVICE AND PAINTING DEFECT INSPECTION METHOD
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Pub. No.: WO/2019/003337 International Application No.: PCT/JP2017/023725
Publication Date: 03.01.2019 International Filing Date: 28.06.2017
Chapter 2 Demand Filed: 19.01.2018
IPC:
G01N 21/95 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
84
Systems specially adapted for particular applications
88
Investigating the presence of flaws, defects or contamination
95
characterised by the material or shape of the object to be examined
Applicants:
日産自動車株式会社 NISSAN MOTOR CO., LTD. [JP/JP]; 神奈川県横浜市神奈川区宝町2番地 2, Takara-cho, Kanagawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2210023, JP
Inventors:
伊藤 慎之介 ITOU, Shinnosuke; JP
平山 満 HIRAYAMA, Mitsuru; JP
織田 雅行 ODA, Masayuki; JP
佐藤 敏之 SATOU, Toshiyuki; JP
坂田 務 SAKATA, Tsutomu; JP
Agent:
とこしえ特許業務法人 TOKOSHIE PATENT FIRM; 東京都新宿区西新宿7丁目22番27号 西新宿KNビル Nishishinjuku KN Bldg., 22-27, Nishishinjuku 7-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023, JP
Priority Data:
Title (EN) PAINTING DEFECT INSPECTION DEVICE AND PAINTING DEFECT INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION D'IRRÉGULARITÉS DE PEINTURE ET PROCÉDÉ D'INSPECTION D'IRRÉGULARITÉS DE PEINTURE
(JA) 塗装欠陥検査装置及び塗装欠陥検査方法
Abstract:
(EN) The present invention is provided with: a pattern irradiation apparatus (11) which, within a surface perpendicular to the irradiation direction, irradiates a surface (2) to be inspected with a bright-and-dark pattern (3) in which bright portions (3a) and dark portions (3b) alternately appear, and which moves the bright-and-dark pattern by at least one pitch of a pair of the bright and dark portions in the arrangement direction of the bright portions and dark portions; an image-capturing apparatus which captures a plurality of images of the bright-and-dark pattern (4), projected by the pattern irradiation apparatus onto the surface to be inspected, according to the movement of the bright-and-dark pattern; an image processing apparatus (13) which extracts, from the plurality of images (IM1) captured by the image-capturing apparatus, the maximum brightness at each position and generates a maximum brightness image (IM2); and a determination unit (13) which determines whether the brightness at each position in the maximum brightness image is within a predetermined range.
(FR) La présente invention comprend : un appareil d'irradiation de motif (11) qui, à l'intérieur d'une surface perpendiculaire à la direction d'irradiation, irradie une surface (2) à inspecter avec un motif clair et sombre (3) dans lequel des parties claires (3a) et des parties sombres (3b) apparaissent en alternance, et qui déplace le motif clair et sombre par au moins un pas d'une paire des parties claires et sombres dans la direction d'agencement des parties claires et des parties sombres; un appareil de capture d'image qui capture une pluralité d'images du motif clair et sombre (4), projetées par l'appareil d'irradiation de motif sur la surface à inspecter, selon le mouvement du motif clair et sombre; un appareil de traitement d'image (13) qui extrait, à partir de la pluralité d'images (IM1) capturées par l'appareil de capture d'image, la luminosité maximale à chaque position et génère une image de luminosité maximale (IM2); et une unité de détermination (13) qui détermine si la luminosité à chaque position dans l'image de luminosité maximale est dans une plage prédéfinie.
(JA) 照射方向に対して垂直な面内において周期的に明部(3a)と暗部(3b)とが交互に現れる明暗パターン(3)を被検査面(2)に照射するとともに、前記明暗パターンを前記明部と前記暗部の整列方向に、一対の明部及び暗部の1周期以上、移動させるパターン照射器(11)と、前記パターン照射器により前記被検査面に映る明暗パターン(4)の画像を、前記明暗パターンの移動に合わせて、複数撮影する撮影器(12)と、前記撮影器により撮影された複数の画像(IM1)から各位置の最大明度を抽出して最大明度画像(IM2)を生成する画像処理器(13)と、前記最大明度画像の各位置の明度が、所定範囲にあるか否かを判定する判定器(13)と、を備える。
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Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)