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1. (WO2019001265) METHOD FOR MEASURING SURFACE CHARGES
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Pub. No.: WO/2019/001265 International Application No.: PCT/CN2018/090808
Publication Date: 03.01.2019 International Filing Date: 12.06.2018
IPC:
G01N 21/64 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
62
Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63
optically excited
64
Fluorescence; Phosphorescence
Applicants:
暨南大学 JINAN UNIVERSITY [CN/CN]; 中国广东省广州市 天河区黄埔大道西601号 No. 601, Huangpu Avenue West, Tianhe District Guangzhou, Guangdong 510632, CN
Inventors:
黄耀熊 HUANG, Yaoxiong; CN
Agent:
广州市华学知识产权代理有限公司 GUANGZHOU HUAXUE INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY CO., LTD.; 中国广东省广州市 天河区五山路381号物资大楼首层 1st Floor, Material Building, No.381 Wushan Road, Tianhe District Guangzhou, Guangdong 510640, CN
Priority Data:
201710498660.027.06.2017CN
Title (EN) METHOD FOR MEASURING SURFACE CHARGES
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE CHARGES DE SURFACE
(ZH) 一种测定表面电荷的方法
Abstract:
(EN) Disclosed in the present invention are a method for measuring surface charges, used for visually and quantitatively measuring the surface charge distribution state and the charge density of a grain or membranoid substance having a rough and irregular surface. The method comprises : placing a substance to be measured in a buffer solution, and adding fluorescence nanoparticles having an opposite number charge to the charge of the surface of the substance to be measured; combining the fluorescence nanoparticles with the surface of the substance to be measured due to the action of electrostatic attraction; washing off free fluorescence nanoparticles uncombined to the charge of the surface of the substance to be measured; placing the substance to be measured below a fluorescence microscope, and observing the fluorescence distribution state and intensity of the fluorescence nanoparticles by means of fluorescence imaging; determine the charge distribution state of the surface of the substance to be measured from the fluorescence distribution state thereof; and determining the charge density of each point by means of meaturing the fluorescence intensity of each point. The described method has the advantages of simple and fast operation, and by means of the method, the three-dimensional distribution state of the surface charges of a granule or membranoid substance comprising an equally complicated rough and irregular surface and having various surface forms may be visually detected, and the detection resolution is in tens of nanometers.
(FR) La présente invention concerne un procédé de mesure de charges de surface, utilisé pour mesurer visuellement et quantitativement l'état de distribution de charge de surface et la densité de charge d'un grain ou d'une substance membranoïde ayant une surface rugueuse et irrégulière. Le procédé comprend : le placement d'une substance à mesurer dans une solution tampon, et l'ajout de nanoparticules de fluorescence ayant une charge numérique opposée à la charge de la surface de la substance à mesurer; la combinaison des nanoparticules de fluorescence avec la surface de la substance à mesurer en raison de l'action d'attraction électrostatique; le lavage des nanoparticules de fluorescence libres non combinées à la charge de la surface de la substance à mesurer; le placement de la substance à mesurer au-dessous d'un microscope à fluorescence, et l'observation de l'état de distribution et de l'intensité de fluorescence des nanoparticules de fluorescence au moyen d'une imagerie par fluorescence; la détermination de l'état de distribution de charge de la surface de la substance à mesurer à partir de l'état de distribution de fluorescence de celles-ci; et la détermination de la densité de charge de chaque point au moyen de la mesure de l'intensité de fluorescence de chaque point. Le procédé décrit présente les avantages d'un fonctionnement simple et rapide, et au moyen du procédé, l'état de distribution tridimensionnelle des charges de surface d'un granule ou d'une substance membranoïde comprenant une surface rugueuse et irrégulière également compliquée et ayant différentes formes de surface peut être détecté visuellement, et la résolution de détection est de l'ordre de dizaines de nanomètres.
(ZH) 本发明公开了一种测定表面电荷的方法,用于对表面粗糙且不规则的颗粒或膜状物的表面电荷分布状态及其电荷密度作可视化定量测定,将待测物置于缓冲液中,加入与待测物表面电荷相异号电荷的荧光纳米粒子,荧光纳米粒子与待测物表面的电荷因静电吸引作用而结合,洗掉未结合到待测物表面电荷的自由荧光纳米粒子,通过将待测物置于荧光显微镜下进行荧光成像观察荧光纳米粒子的荧光分布状态与强度,从其荧光分布状态可确定待测物表面电荷的分布状态,通过测定每一点的荧光强度可确定该点的电荷密度。该方法操作简便、快速,能可视化检测具各种表面形态包括相当复杂粗糙且不规则表面的颗粒或膜状物的表面电荷三维分布状态,检测分辨率为数十纳米。
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)