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1. (WO2018227475) FINGERPRINT CHIP DETECTION METHOD, DEVICE AND SYSTEM
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Pub. No.: WO/2018/227475 International Application No.: PCT/CN2017/088447
Publication Date: 20.12.2018 International Filing Date: 15.06.2017
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31
Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28
Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
Applicants:
深圳市汇顶科技股份有限公司 SHENZHEN GOODIX TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳市 福田区保税区腾飞工业大厦B座13层 Floor 13, Phase B, Tengfei Industrial Building Futian Free Trade Zone Shenzhen, Guangdong 518045, CN
Inventors:
唐杰 TANG, Jie; CN
Agent:
北京合智同创知识产权代理有限公司 BEIJING HEADSTAY INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY; 中国北京市 海淀区大钟寺13号院1号楼华杰大厦5A1-2 Room 5A1-2, Huajie Plaza, Building No. 1, Dazhongsi No. 13 Haidian District Beijing 100098, CN
Priority Data:
Title (EN) FINGERPRINT CHIP DETECTION METHOD, DEVICE AND SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ, DISPOSITIF ET SYSTÈME DE DÉTECTION DE PUCE D'EMPREINTE DIGITALE
(ZH) 指纹芯片检测方法、装置及系统
Abstract:
(EN) A fingerprint chip detection method and device, a touchscreen development board, and an electronic terminal. The fingerprint chip detection method comprises: controlling a fingerprint chip to repeatedly execute a test instruction for testing a service life of the fingerprint chip until a test result reaches a set abnormal condition and/or the test time reaches a set test time (S102); and determining the detection result of the fingerprint chip according to an operating parameter when the test result reaches the set abnormal condition or the test time reaches the set test time (S104). The detection efficiency is effectively improved, and the detection result is determined by means of the corresponding operating parameter, so that the detection result is accurate, and the detection error is reduced.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif de détection de puce d'empreinte digitale, une carte de développement d'écran tactile et un terminal électronique. Le procédé de détection de puce d'empreinte digitale consiste : à commander à une puce d'empreinte digitale d'exécuter de façon répétée une instruction de test afin de tester une durée de vie de la puce d'empreinte digitale jusqu'à ce qu'un résultat de test atteigne une condition anormale définie et/ou que le temps de test atteigne un temps de test défini (S102) ; et à déterminer le résultat de détection de la puce d'empreinte digitale en fonction d'un paramètre de fonctionnement lorsque le résultat de test atteint l'état anormal défini ou que le temps de test atteint le temps de test défini (S104). L'efficacité de détection est efficacement améliorée et le résultat de détection est déterminé au moyen du paramètre de fonctionnement correspondant, de telle sorte que le résultat de détection soit précis et que l'erreur de détection soit réduite.
(ZH) 一种指纹芯片检测方法、装置、触摸屏开发板及电子终端,其中,指纹芯片检测方法包括:控制指纹芯片重复执行用于测试所述指纹芯片使用寿命的测试指令,直至测试结果达到设定异常条件和/或测试达到设定测试时间(S102);根据所述指纹芯片在测试结果达到设定异常条件或者测试达到设定测试时间时的运行参数,确定所述指纹芯片的检测结果(S104)。有效提升了检测效率,并且,通过相应的运行参数确定检测结果,使得检测结果比较准确,减小了检测误差。
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)