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1. (WO2018221005) SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD
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Pub. No.: WO/2018/221005 International Application No.: PCT/JP2018/014682
Publication Date: 06.12.2018 International Filing Date: 06.04.2018
IPC:
G01N 21/88 (2006.01) ,G01N 21/84 (2006.01)
[IPC code unknown for G01N 21/88][IPC code unknown for G01N 21/84]
Applicants:
コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番2号 2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
Inventors:
原田 孝仁 HARADA, Koji; JP
柏原 将人 KASHIHARA, Masato; JP
脇村 泰三 WAKIMURA, Taizo; JP
Agent:
小谷 悦司 KOTANI, Etsuji; JP
小谷 昌崇 KOTANI, Masataka; JP
櫻井 智 SAKURAI, Satoshi; JP
Priority Data:
2017-10551529.05.2017JP
Title (EN) SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D’INSPECTION DE DÉFAUT DE SURFACE
(JA) 表面欠陥検査装置および該方法
Abstract:
(EN) According to this surface defect inspection device and surface defect inspection method, illumination light is radiated at an inspection surface of an inspection target, and defects in the inspection surface are detected on the basis of an image captured of the inspection surface. The illumination light is radiated to form at least one bright region—dark region set, the width of the bright region being adjusted in accordance with a predefined degree of visibility for defects.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d’inspection de défaut de surface et un procédé d’inspection de défaut de surface, selon lesquels une lumière d’éclairage est rayonnée sur une surface d’inspection d’une cible d’inspection, et des défauts dans la surface d’inspection sont détectés sur la base d’une image capturée de la surface d’inspection. La lumière d’éclairage est rayonnée pour former au moins un ensemble de région lumineuse-région sombre, la largeur de la région lumineuse étant ajustée en fonction d’un degré prédéfini de visibilité pour des défauts.
(JA) 本発明の表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法は、被検査物の被検査面に照明光を照射して前記被検査面を撮像した画像に基づいて前記被検査面の欠陥を検出する装置および方法であって、明領域と暗領域との組を少なくとも1つ形成して前記照明光を照射し、予め定義された欠陥の視認性の程度に応じて前記明領域の幅に調整する。
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Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)