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1. (WO2018220935) SAMPLE HOLDER FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER, SAMPLE HOLDER PRODUCING JIG, AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER
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Pub. No.: WO/2018/220935 International Application No.: PCT/JP2018/009189
Publication Date: 06.12.2018 International Filing Date: 09.03.2018
IPC:
G01N 23/223 (2006.01) ,G01N 1/28 (2006.01)
[IPC code unknown for G01N 23/223][IPC code unknown for G01N 1/28]
Applicants:
株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP/JP]; 東京都昭島市松原町3丁目9番12号 3-9-12, Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo 1968666, JP
Inventors:
松田 渉 MATSUDA, Wataru; JP
井上 稔 INOUE, Minoru; JP
Agent:
特許業務法人はるか国際特許事務所 HARUKA PATENT & TRADEMARK ATTORNEYS; 東京都千代田区六番町3 六番町SKビル5階 Rokubancho SK Bldg. 5th Floor, 3, Rokubancho, Chiyoda-ku, Tokyo 1020085, JP
Priority Data:
2017-10821031.05.2017JP
2017-15959222.08.2017JP
Title (EN) SAMPLE HOLDER FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER, SAMPLE HOLDER PRODUCING JIG, AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER
(FR) PORTE-ÉCHANTILLON POUR ANALYSEUR DE FLUORESCENCE X, GABARIT DE PRODUCTION DE PORTE-ÉCHANTILLON ET PROCÉDÉ DE PRÉPARATION D'ÉCHANTILLON POUR ANALYSEUR DE FLUORESCENCE X
(JA) 蛍光X線分析装置用の試料ホルダ並びに試料ホルダ作成治具及び蛍光X線分析装置用の試料の作製方法
Abstract:
(EN) Provided is a sample holder for an X-ray fluorescence analyzer, wherein the sample holder enables a small amount of a liquid sample that cannot be drip-dried to be measured when performing measurement with an upper surface irradiation-type X-ray fluorescence analyzer. This sample holder for X-ray fluorescence analyzer has: a support substrate (106) having a hole (112) in which a liquid sample is disposed; a first resin film (108) adhered to an X-ray incident-side surface of the support substrate so as to cover the hole; a first substrate (102) having an adhesive layer (110) provided on the rear surface of a surface to which the first resin film of the support substrate is adhered; a fixed substrate (118) having a hole (122) at the position corresponding to the hole provided in the support substrate; and a second substrate (104) which has a second resin film (120) adhered to the X-ray incident-side surface of the fixed substrate, and is adhered to the first substrate by means of the adhesive layer.
(FR) L'invention concerne un porte-échantillon pour un analyseur de fluorescence X, le porte-échantillon permettant de mesurer une petite quantité d'un échantillon liquide qui ne peut pas être séché par égouttement lors de la réalisation d'une mesure au moyen d'un analyseur de fluorescence X de type à rayonnement de surface supérieure. Le présent porte-échantillon pour analyseur de fluorescence X comporte : un substrat de support (106) comportant un trou (112) dans lequel est disposé un échantillon liquide ; un premier film de résine (108) collé à une surface côté incidence de rayons X du substrat de support de manière à recouvrir le trou ; un premier substrat (102) comportant une couche adhésive (110) disposée sur la surface arrière d'une surface sur laquelle est collé le premier film de résine du substrat de support ; un substrat fixe (118) comportant un trou (122) à la position correspondant au trou ménagé dans le substrat de support ; et un second substrat (104) qui comporte un second film de résine (120) collé à la surface côté incidence de rayons X du substrat fixe, et qui est collé au premier substrat au moyen de la couche adhésive.
(JA) 上面照射型の蛍光X線分析装置で測定を行う場合に、少量かつ点滴乾燥することのできない液体状の試料の測定を可能とする蛍光X線分析装置用の試料ホルダを提供する。蛍光X線分析装置用の試料ホルダは、液体状の試料が配置される孔(112)を有する支持基板(106)と、該孔を覆うように該支持基板のX線の入射側の面に接着された第1樹脂フィルム(108)と、支持基板の第1樹脂フィルムが接着された面の裏面に設けられた接着層(110)と、を有する第1基板(102)と、前記支持基板が有する孔と対応する位置に孔(122)を有する固定基板(118)と、該固定基板の前記X線の入射側の面に接着された第2樹脂フィルム(120)と、を有し、前記接着層によって前記第1基板と接着される第2基板(104)と、を有する。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)