Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2018198828) DEFECT INSPECTION IMAGE GENERATING DEVICE AND DEFECT INSPECTION IMAGE GENERATING METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2018/198828 International Application No.: PCT/JP2018/015535
Publication Date: 01.11.2018 International Filing Date: 13.04.2018
IPC:
G01N 21/88 (2006.01) ,G06T 1/00 (2006.01)
[IPC code unknown for G01N 21/88][IPC code unknown for G06T 1]
Applicants:
コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番2号 2-7-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
Inventors:
高田 直弥 TAKATA Naoya; JP
Agent:
吉竹 英俊 YOSHITAKE Hidetoshi; JP
有田 貴弘 ARITA Takahiro; JP
Priority Data:
2017-08977928.04.2017JP
Title (EN) DEFECT INSPECTION IMAGE GENERATING DEVICE AND DEFECT INSPECTION IMAGE GENERATING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE GÉNÉRATION D’IMAGE D’INSPECTION DE DÉFAUT ET PROCÉDÉ DE GÉNÉRATION D’IMAGE D’INSPECTION DE DÉFAUT
(JA) 欠陥検査用画像の生成装置および欠陥検査用画像の生成方法
Abstract:
(EN) An objective of the present invention is to generate a defect inspection image with which a part corresponding to a defect consisting of mild unevenness is easily detected while suppressing the amount of time required. In order to achieve this objective, provided is a defect inspection image generating device that comprises: an illumination light source that emits illumination light onto a target; a phase control unit that shifts the phase of an intensity change of the illumination light a plurality of times; an image capturing device; an image capturing control unit that causes the image capturing device to capture an image of a contrast pattern formed on the target for each of the plurality of phase shifts and generate a brightness image; a phase image generating unit that generates, on the basis of the plurality of brightness images, at least two phase images which have phase values wrapped in a prescribed angular range as pixel values and in which the positions of phase jumps are different from each other; an edge image generating unit that generates at least two edge images corresponding to the at least two phase images; and an inspection image generating unit that generates a defect inspection image by extracting edge regions that exist at the same positions in the at least two edge images.
(FR) Un objectif de la présente invention est de générer une image d’inspection de défaut avec laquelle une partie correspondant à un défaut constitué d’une légère irrégularité est aisément détectée tout en supprimant la quantité de temps nécessaire. Afin d’atteindre cet objectif, la présente invention concerne un dispositif de génération d’image d’inspection de défaut qui comprend : une source de lumière d’éclairage qui émet une lumière d’éclairage sur une cible ; une unité de commande de phase qui décale la phase d’un changement d’intensité de la lumière d’éclairage une pluralité de fois ; un dispositif de capture d’image ; une unité de commande de capture d’image qui amène le dispositif de capture d’image à capturer une image d’un motif de contraste formé sur la cible pour chacun de la pluralité de déphasages et générer une image de luminosité ; une unité de génération d’image de phase qui génère, sur la base de la pluralité d’images de luminosité, au moins deux images de phase qui ont des valeurs de phase enveloppées dans une plage angulaire prescrite en tant que valeurs de pixel et dans lesquelles les positions de sauts de phase sont différentes les unes des autres ; une unité de génération d’image de bord qui génère au moins deux images de bord correspondant aux au moins deux images de phase ; et une unité de génération d’image d’inspection qui génère une image d’inspection de défaut par extraction de régions de bord qui existent aux mêmes positions dans les au moins deux images de bord.
(JA) 緩やかな凹凸からなる欠陥に対応する部分の検出が容易な欠陥検査用画像を、所要時間を抑制しつつ生成することを図る。該目的を達成するために、欠陥検査用画像の生成装置は、照明光を対象物に照射する照明光源と、照明光の強度変化の位相を複数回シフトさせる位相制御部と、撮像装置と、位相の複数回のシフトのそれぞれに対して、対象物上に形成される明暗パターンを撮像装置に撮像させて輝度画像を生成させる撮像制御部と、当該複数の輝度画像に基づいて、所定の角度範囲にラップされた各位相値を各画素値として有するとともに、位相飛びの位置が相互に異なる少なくとも2つの位相画像を生成する位相画像生成部と、少なくとも2つの位相画像に対応する少なくとも2つのエッジ画像を生成するエッジ画像生成部と、当該少なくとも2つのエッジ画像の同じ位置に存在するエッジ領域を抽出した欠陥検査用画像を生成する検査用画像生成部とを備える。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)