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1. (WO2018179078) PHOTOMETRIC ANALYSIS DEVICE, PHOTOMETRIC ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM
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Pub. No.: WO/2018/179078 International Application No.: PCT/JP2017/012573
Publication Date: 04.10.2018 International Filing Date: 28.03.2017
IPC:
G01N 21/64 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
62
Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63
optically excited
64
Fluorescence; Phosphorescence
Applicants: OLYMPUS CORPORATION[JP/JP]; 2951, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507, JP
Inventors: YAMAGUCHI Mitsushiro; JP
TANABE Tetsuya; JP
Agent: TANAI Sumio; JP
SHIGA Masatake; JP
SUZUKI Mitsuyoshi; JP
TAKASHIBA Tadao; JP
SUZUKI Shirou; JP
HASHIMOTO Hiroyuki; JP
Priority Data:
Title (EN) PHOTOMETRIC ANALYSIS DEVICE, PHOTOMETRIC ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE PHOTOMÉTRIQUE, PROCÉDÉ D'ANALYSE PHOTOMÉTRIQUE ET PROGRAMME
(JA) 光分析装置、光分析方法、およびプログラム
Abstract:
(EN) This photometric analysis device includes a light source, beam shaping unit, relatively moving unit, light detection unit, and position detection unit. The light source unit generates an optical beam. The beam shaping unit forms a flat beam section. The relatively moving unit relatively moves a sample to be examined and the flat beam section in the short axis direction of the flat beam section by moving the sample and/or flat beam section. The light detection unit detects the light intensity of emitted light, and the light emitting position of the emitted light, said light emitting position being on a plane orthogonal to the short axis direction. On the basis of information of the relative movement quantity of the flat beam section, and information of the light intensity and the light emitting position, the position detection unit is capable of detecting the spatial positions of marker particles.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'analyse photométrique comprenant une source de lumière, une unité de mise en forme de faisceau, une unité de déplacement relatif, une unité de détection de lumière et une unité de détection de position. L'unité de source de lumière génère un faisceau optique. L'unité de mise en forme de faisceau forme une section de faisceau plat. L'unité de déplacement relatif déplace relativement un échantillon à examiner et la section de faisceau plat dans la direction d'axe court de la section de faisceau plat par le déplacement de l'échantillon et/ou de la section de faisceau plat. L'unité de détection de lumière détecte l'intensité lumineuse de la lumière émise et la position électroluminescente de la lumière émise, ladite position électroluminescente se situant sur un plan orthogonal à la direction d'axe court. En fonction d'informations de la quantité de mouvement relatif de la section de faisceau plat et d'informations de l'intensité lumineuse et de la position électroluminescente, l'unité de détection de position est capable de détecter les positions spatiales de particules de marqueurs.
(JA) 光分析装置は、光源と、ビーム整形部と、相対移動部と、光検出部と、位置検出部とを含む。光源部は光ビームを発生する。ビーム整形部は扁平ビーム部を形成する。相対移動部は被検試料および扁平ビーム部の少なくとも一方を移動することにより、被検試料と扁平ビーム部とを扁平ビーム部の短軸方向に相対移動させる。光検出部は、発光光の光強度と、短軸方向に直交する平面における発光光の発光位置と、を検出する。位置検出部は扁平ビーム部の相対移動量の情報と、光強度および発光位置の情報と、に基づいて、マーカー粒子の空間位置の検出が可能である。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)