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1. (WO2018158435) DEFLECTOMETER, REFERENCE PATTERN AND METHOD FOR DETERMINING THE TOPOGRAPHY OF AN OBJECT
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Pub. No.: WO/2018/158435 International Application No.: PCT/EP2018/055190
Publication Date: 07.09.2018 International Filing Date: 02.03.2018
IPC:
G01B 11/25 (2006.01) ,A61B 3/10 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11
Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24
for measuring contours or curvatures
25
by projecting a pattern, e.g. moiré fringes, on the object
A HUMAN NECESSITIES
61
MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
B
DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
3
Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
10
Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients perceptions or reactions
Applicants: FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.[DE/DE]; Hansastraße 27c 80686 München, DE
KARLSRUHER INSTITUT FÜR TECHNOLOGIE[DE/DE]; Kaiserstraße 12 76131 Karlsruhe, DE
Inventors: ZIEBARTH, Mathias; DE
STEPHAN, Thomas; DE
BURKE, Jan; DE
Agent: ZIMMERMANN, Tankred; DE
STÖCKELER, Ferdinand; DE
ZINKLER, Franz; DE
SCHENK, Markus; DE
HERSINA, Günter; DE
BURGER, Markus; DE
SCHAIRER, Oliver; DE
PFITZNER, Hannes; DE
KÖNIG, Andreas; DE
Priority Data:
10 2017 203 390.802.03.2017DE
Title (EN) DEFLECTOMETER, REFERENCE PATTERN AND METHOD FOR DETERMINING THE TOPOGRAPHY OF AN OBJECT
(FR) DÉFLECTOMÈTRE, MOTIF DE RÉFÉRENCE ET PROCÉDÉ SERVANT À DÉFINIR LA TOPOGRAPHIE D'UN OBJET
(DE) DEFLEKTOMETER, REFERENZMUSTER UND VERFAHREN ZUR TOPOGRAFIEBESTIMMUNG EINES OBJEKTS
Abstract:
(EN) The invention relates to a deflectometer for determining the topography of an object, having a display, which is designed to reproduce a reference pattern. The reference pattern comprises a first plurality of spirals and a second plurality of spirals, wherein the direction of turn of the first plurality of spirals is opposite to the direction of turn of the second plurality of spirals. The deflectometer is further designed to provide topographic information regarding the object, on the basis of a reflection of the reference pattern on the object.
(FR) L'invention concerne un déflectomètre servant à définir la topographie d'un objet, comprenant un affichage, qui est configuré pour reproduire un motif de référence. Le motif de référence comporte une première multitude de spirales et une deuxième multitude de spirales. Une direction d'enroulement de la première multitude de spirales est opposée à une direction d'enroulement de la deuxième multitude de spirales. En outre, le déflectomètre est configuré pour fournir, sur la base d'une réflexion du motif de référence sur l'objet, une information topographique concernant l'objet.
(DE) Deflektometer zur Topografiebestimmung eines Objekts, mit einer Anzeige, die ausgelegt ist, um ein Referenzmuster wiederzugeben. Das Referenzmuster weist eine erste Mehrzahl von Spiralen auf und eine zweite Mehrzahl von Spiralen auf, wobei eine Wicklungsrichtung der ersten Mehrzahl von Spiralen entgegengesetzt zu einer Wicklungsrichtung der zweiten Mehrzahl von Spiralen ist. Ferner ist das Deflektometer ausgelegt, basierend auf einer Reflektion des Referenzmusters an dem Objekt eine topografische Information über das Objekt bereitzustellen.
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Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)