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1. (WO2018141560) METHOD FOR DETERMINING A DEVIATION ON A DISPLACEMENT PATH OF AN OPTICAL ZOOM LENS AND METHOD FOR CORRECTION AND IMAGE RECORDING DEVICE
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Pub. No.: WO/2018/141560 International Application No.: PCT/EP2018/051295
Publication Date: 09.08.2018 International Filing Date: 19.01.2018
IPC:
G03B 5/00 (2006.01) ,G02B 7/10 (2006.01) ,G02B 15/14 (2006.01) ,G02B 27/32 (2006.01) ,G02B 27/62 (2006.01)
G PHYSICS
03
PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
B
APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
5
Adjustment of optical system relative to image or object surface other than for focusing of general interest for cameras, projectors or printers
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
7
Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
02
for lenses
04
with mechanism for focusing or varying magnification
10
by relative axial movement of several lenses, e.g. of varifocal objective lens
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
15
Optical objectives with means for varying the magnification
14
by axial movement of one or more lenses or groups of lenses relative to the image plane for continuously varying the equivalent focal length of the objective
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27
Other optical systems; Other optical apparatus
32
Fiducial marks or measuring scales within the optical system
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27
Other optical systems; Other optical apparatus
62
Optical apparatus specially adapted for adjusting optical elements during the assembly of optical systems
Applicants:
CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
Inventors:
STEGMANN, Daniel; DE
HARANGOZO, Daniel; DE
SCHACHT, Peter; DE
MILDE, Thomas; DE
Agent:
ENGEL, Christoph K.; DE
RITTERMANN, Marco; DE
Priority Data:
10 2017 101 824.731.01.2017DE
Title (EN) METHOD FOR DETERMINING A DEVIATION ON A DISPLACEMENT PATH OF AN OPTICAL ZOOM LENS AND METHOD FOR CORRECTION AND IMAGE RECORDING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'UN ÉCART SUR UNE VOIE DE DÉPLACEMENT D'UNE OPTIQUE ZOOM ET PROCÉDÉ DE CORRECTION AINSI QUE DISPOSITIF D'ENREGISTREMENT D'IMAGES
(DE) VERFAHREN ZUM BESTIMMEN EINER ABWEICHUNG AUF EINEM VERSCHIEBEWEG EINER ZOOM-OPTIK UND VERFAHREN ZUR KORREKTUR SOWIE BILDAUFNAHMEVORRICHTUNG
Abstract:
(EN) The invention relates firstly to a method for determining a mechanical deviation on a displacement path of an optical zoom lens (03), in particular on a displacement path of an optical zoom lens (03) of a microscope. The optical zoom lens (03) is arranged in a beam path (01) between an object (19) to be recorded and an electronic image sensor (04). In a first method step, an optical marker is introduced into the beam path (01) at a position of the beam path (01) located between the object (19) to be recorded and the optical zoom lens (03), such that the optical marker passes the optical zoom lens (03) and then is depicted on an image in which a position of the optical marker is detected and determined. This is compared with a reference position of the optical marker in order to determine the mechanical deviation on the displacement path of the optical zoom lens (03). The invention further relates to a method for correction of a displacement error of an image recorded by an electronic image sensor (04) and to an electronic image recording device.
(FR) La présente invention concerne un procédé de détermination d'un écart mécanique sur une voie de déplacement d'une optique zoom (03), en particulier sur une voie de déplacement d'une optique zoom (03) d'un microscope. L'optique zoom (03) est agencée dans un chemin optique (01), entre un objet à enregistrer (19) et un capteur d'image (04) électronique. Dans une première étape, un marquage optique est appliqué dans le chemin optique (01), à une position du chemin optique (01) située entre l'objet à enregistrer (19) et l'optique zoom (03), le marquage optique de l'optique zoom (03) passant à travers ladite position, puis étant représenté sur une image dans laquelle une position du marquage optique est détectée et déterminée. Ladite position est comparée à une position de référence du marquage optique pour déterminer l'écart mécanique sur la voie de déplacement de l'optique zoom (03). En outre, l'invention concerne un procédé de correction d'une erreur de déplacement d'une image enregistrée à l'aide d'un capteur d'image (04) électronique ainsi qu'un dispositif d'enregistrement d'images électronique.
(DE) Die vorliegende Erfindung betrifft zunächst Verfahren zum Bestimmen einer mechanischen Abweichung auf einem Verschiebeweg einer Zoom-Optik (03), insbesondere auf einem Verschiebeweg einer Zoom-Optik (03) eines Mikroskops. Die Zoom-Optik (03) ist in einem Strahlengang (01) zwischen einem aufzunehmenden Objekt (19) und einem elektronischen Bildsensor (04) angeordnet. In einem ersten Verfahrensschritt wird eine optische Markierung in den Strahlengang (01) an einer zwischen dem aufzunehmenden Objekt (19) und der Zoom-Optik (03) befindlichen Position des Strahlenganges (01) eingeprägt, wodurch die optische Markierung die Zoom-Optik (03) passiert und anschließend auf einem Bild abgebildet wird, in welchem eine Position der optischen Markierung detektiert und bestimmt wird. Diese wird mit einer Referenzposition der optischen Markierung verglichen, um die mechanische Abweichung auf dem Verschiebeweg der Zoom-Optik (03) zu bestimmen. Im Weiteren betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Korrektur eines Verschiebungsfehlers eines mit einem elektronischen Bildsensor (04) aufgenommenen Bildes sowie eine elektronische Bildaufnahmevorrichtung.
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Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)