WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2018140221) METHOD AND APPARATUS FOR AUTO-CALIBRATION OF DELAY SETTINGS OF MEMORY INTERFACES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2018/140221 International Application No.: PCT/US2018/012808
Publication Date: 02.08.2018 International Filing Date: 08.01.2018
IPC:
G06F 13/16 (2006.01) ,G11C 7/22 (2006.01) ,G11C 11/4096 (2006.01) ,G11C 29/12 (2006.01)
Applicants: IKANOS COMMUNICATIONS, INC.[US/US]; 47669 Fremont Blvd Fremont, CA 94538, US
Inventors: PEDDU, Subash Babu; US
KAMASANI, Venkatramana; US
KALAKOTLA, Vijay Shikhamani; US
CUNZA, Daniel; US
Agent: WORLEY, Eugene; US
Priority Data:
15/413,93624.01.2017US
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR AUTO-CALIBRATION OF DELAY SETTINGS OF MEMORY INTERFACES
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL D'AUTO-ÉTALONNAGE DE RÉGLAGES DE RETARD D'INTERFACES DE MÉMOIRE
Abstract: front page image
(EN) In some aspects, a calibration method includes performing a write/read test for each one of multiple combinations of write/read delay settings, wherein each one of the multiple combinations of write/read delay settings includes one of a plurality of write delay settings of a first delay device and one of a plurality of read delay settings of a second delay device. The method also includes obtaining test results for the write/read tests, determining a pass region based on the test results, determining a center of the pass region, and selecting one of the multiple combinations of write/read settings based on the center of the pass region.
(FR) La présente invention concerne un procédé d'étalonnage comprenant la réalisation d'un test d'écriture/lecture pour chacune de multiples combinaisons de réglages de retard d'écriture/lecture, chacune des multiples combinaisons de réglages de retard d'écriture/lecture comprenant l'un d'une pluralité de réglages de retard d'écriture d'un premier dispositif de retard et l'un d'une pluralité de réglages de retard de lecture d'un second dispositif de retard. Le procédé consiste également à obtenir des résultats de test pour les tests d'écriture/lecture, à déterminer une région de passage sur la base des résultats de test, à déterminer un centre de la région de passage, et à sélectionner l'une des multiples combinaisons de réglages d'écriture/lecture sur la base du centre de la région de passage.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)