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1. (WO2018139481) OPHTHALMIC MEASUREMENT DEVICE
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Pub. No.: WO/2018/139481 International Application No.: PCT/JP2018/002102
Publication Date: 02.08.2018 International Filing Date: 24.01.2018
IPC:
A61B 3/103 (2006.01)
A HUMAN NECESSITIES
61
MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
B
DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
3
Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
10
Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients perceptions or reactions
103
for determining refraction, e.g. refractometers, skiascopes
Applicants:
株式会社トプコン TOPCON CORPORATION [JP/JP]; 東京都板橋区蓮沼町75番1号 75-1, Hasunuma-cho, Itabashi-ku, Tokyo 1748580, JP
Inventors:
三橋 俊文 MIHASHI, Toshifumi; JP
Agent:
末成 幹生 SUENARI, Mikio; JP
Priority Data:
2017-01113125.01.2017JP
Title (EN) OPHTHALMIC MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE OPHTALMIQUE
(JA) 眼科測定装置
Abstract:
(EN) Provided is an ophthalmic measurement device with which it is possible to obtain an area in which a measurement can be taken without moving an optical system. With reference to an optical path length of an illumination optical system 200 with which light is focused on the eyeground when the lev value is 0D, the positions of light sources 201 and 202 are set to achieve a setting in which the optical path length becomes slightly shorter. By doing so, it is possible to cope with measurement of refractive properties in a large area without employing structures that allow a lens system of the illumination optical system 200 and the light sources thereof to be moved. In addition, by selecting one of the light sources 201 and 202 so that a clearer Hartmann image can be obtained, it is possible to further increase the precision of the refractive properties to be measured.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure ophtalmique avec lequel il est possible d'obtenir une zone dans laquelle une mesure peut être prise sans déplacer un système optique. En référence à une longueur de chemin optique d'un système optique d'éclairage (200) avec lequel la lumière est focalisée sur le fond d'oeil lorsque la valeur lev est égale à 0D, les positions des sources de lumière (201 et 202) sont définies pour obtenir un réglage dans lequel la longueur du chemin optique devient légèrement plus courte. Ainsi, il est possible de maîtriser la mesure de propriétés de réfraction dans une grande zone sans utiliser de structures qui permettent de déplacer un système de lentille du système optique d'éclairage (200) et les sources de lumière de celui-ci. De plus, en sélectionnant l'une des sources de lumière (201 et 202) de façon à obtenir une image de Hartmann plus claire, il est possible d'augmenter encore la précision des propriétés de réfraction à mesurer.
(JA) 光学系を移動させなくても測定可能な範囲を得ることができる眼科測定装置を提供する。レフ値が0Dの場合に眼底への集光が得られる照明光学系200の光路長を基準として、光路長がやや短くなる設定となるように光源201および202の位置を決める。これにより、照明光学系200のレンズ系や光源を可動させる構造としなくても広い範囲の屈折特性の測定に対応できる。また、より鮮明なハルトマン像が得られるように光源201および202をいずれかを選択することで、計測される屈折特性の精度を更に高くできる。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)