WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Options
Query Language
Stem
Sort by:
List Length
1. (WO2018138880) MODEL PARAMETER VALUE ESTIMATION DEVICE AND ESTIMATION METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM RECORDED THERETO, AND MODEL PARAMETER VALUE ESTIMATION SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2018/138880 International Application No.: PCT/JP2017/002995
Publication Date: 02.08.2018 International Filing Date: 27.01.2017
IPC:
G05B 13/04 (2006.01) ,G06F 17/18 (2006.01)
G PHYSICS
05
CONTROLLING; REGULATING
B
CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
13
Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
02
electric
04
involving the use of models or simulators
G PHYSICS
06
COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
F
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
17
Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
10
Complex mathematical operations
18
for evaluating statistical data
Applicants: MITSUBISHI HITACHI POWER SYSTEMS, LTD.[JP/JP]; 3-1, Minatomirai 3-chome, Nishi-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2208401, JP
Inventors: YOSHIDA Yasuhiro; JP
TOKUDA Yuya; JP
YOSHIDA Takuya; JP
ENOMOTO Yuki; JP
OSAKI Nobuhiro; JP
NAGAHAMA Yoshito; JP
Agent: KAICHI IP; 3-16, Nihonbashi-muromachi 4-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030022, JP
Priority Data:
Title (EN) MODEL PARAMETER VALUE ESTIMATION DEVICE AND ESTIMATION METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM RECORDED THERETO, AND MODEL PARAMETER VALUE ESTIMATION SYSTEM
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE VALEURS DE PARAMÈTRES DE MODÈLE, PROGRAMME, SUPPORT D'ENREGISTREMENT SUR LEQUEL EST ENREGISTRÉ UN PROGRAMME, ET SYSTÈME D'ESTIMATION DE VALEURS DE PARAMÈTRES DE MODÈLE
(JA) モデルパラメータ値推定装置及び推定方法、プログラム、プログラムを記録した記録媒体、モデルパラメータ値推定システム
Abstract:
(EN) A model parameter value estimation device (100) comprising: a plant model (2) that is a previously set physical model that simulates the operation of a target product, and inputs a model parameter value and calculates a process value; a model parameter value estimation unit (3) that, on the basis of the process value, estimates the most plausible model parameter value; an accumulation unit (4) that accumulates calculation results from the model parameter value estimation unit (3); and an output unit (5) that outputs the calculation results from the model parameter value estimation unit (3), wherein the model parameter value estimation unit (3) inputs a measurement value for a target product and a plurality of process values that were calculated with the plant model (2), and performs Bayesian updating of a probability density function that was accumulated by the accumulation unit (4), treating a function that was generated on the basis of an accuracy evaluation of the plurality of process values with regard to the measurement value as a plausibility function. Thus, the present invention is able to provide a model parameter value estimation device and estimation method with which a model parameter value can be estimated even when the distribution profile or statistics of the probability density function are unknown or difficult to estimate.
(FR) L'invention concerne un dispositif (100) d'estimation de valeurs de paramètres de modèle comportant: un modèle (2) d'équipement qui est un modèle physique défini précédemment qui simule le fonctionnement d'un produit cible, et qui introduit une valeur de paramètre de modèle et calcule une valeur de processus; une unité (3) d'estimation de valeurs de paramètres de modèle qui, d'après la valeur de processus, estime la valeur de paramètre de modèle la plus plausible; une unité (4) d'accumulation qui accumule des résultats de calcul provenant de l'unité (3) d'estimation de valeurs de paramètres de modèle; et une unité (5) de sortie qui délivre les résultats de calcul provenant de l'unité (3) d'estimation de valeurs de paramètres de modèle, l'unité (3) d'estimation de valeurs de paramètres de modèle introduisant une valeur de mesure pour un produit cible et une pluralité de valeurs de processus qui ont été calculées à l'aide du modèle (2) d'équipement, et effectue une actualisation bayésienne d'une fonction de densité de probabilité qui a été accumulée par l'unité (4) d'accumulation, en traitant une fonction qui a été générée d'après un évaluation d'exactitude de la pluralité de valeurs de processus par rapport à la valeur de mesure comme une fonction de plausibilité. Ainsi, la présente invention est capable de mettre en place un dispositif et un procédé d'estimation de valeurs de paramètres de modèle à l'aide desquels une valeur de paramètre de modèle peut être estimée même lorsque le profil de distribution ou les statistiques de la fonction de densité de probabilité sont inconnus ou difficiles à estimer.
(JA) 対象製品の動作を模擬する予め設定した物理モデルであって、モデルパラメータ値を入力しプロセス値を計算するプラントモデル(2)と、プロセス値に基づき、より尤度の高いモデルパラメータ値を推定するモデルパラメータ値推定部(3)と、モデルパラメータ値推定部(3)の演算結果を蓄積する蓄積部(4)と、モデルパラメータ値推定部(3)の演算結果を出力する出力部(5)とを備えたモデルパラメータ値推定装置(100)において、モデルパラメータ値推定部(3)は、対象製品の計測値及びプラントモデル(2)で計算された複数のプロセス値を入力し、計測値に対する複数のプロセス値の精度評価に基づき生成した関数を尤度関数と見なして蓄積部(4)に蓄積された確率密度関数をベイズ更新する。これにより、確率密度関数についての分布形状や統計量が未知ないしは推定困難である場合でも、モデルパラメータ値を推定することができるモデルパラメータ値推定装置及び推定方法を提供できる。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)