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1. (WO2018122696) CALIBRATION METHOD AND CALIBRATION DEVICE OBTAINABLE BY SAID METHOD.
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Pub. No.: WO/2018/122696 International Application No.: PCT/IB2017/058261
Publication Date: 05.07.2018 International Filing Date: 21.12.2017
IPC:
G03F 7/20 (2006.01) ,G01B 21/04 (2006.01) ,B29C 64/386 (2017.01) ,B33Y 50/02 (2015.01)
G PHYSICS
03
PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
F
PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
7
Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printed surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
20
Exposure; Apparatus therefor
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
21
Measuring arrangements or details thereof in so far as they are not adapted to particular types of measuring means of the other groups of this subclass
02
for measuring length, width, or thickness
04
by measuring coordinates of points
[IPC code unknown for B29C 64/386][IPC code unknown for B33Y 50/02]
Applicants:
DWS S.R.L. [IT/IT]; VIA DELLA MECCANICA, 21 36016 THIENE (VI), IT
Inventors:
MURARO, Alberto; IT
FORTUNATO, Roberto; IT
Agent:
MARCHIORO, Paolo; IT
Priority Data:
10201600013125227.12.2016IT
Title (EN) CALIBRATION METHOD AND CALIBRATION DEVICE OBTAINABLE BY SAID METHOD.
(FR) PROCÉDÉ D’ÉTALONNAGE ET DISPOSITIF D’ÉTALONNAGE POUVANT ÊTRE OBTENU PAR LEDIT PROCÉDÉ
Abstract:
(EN) Method for the calibration of a plurality of light sources (3) belonging to an additive manufacturing machine adapted to manufacture layered three- dimensional objects by selective solidification of corresponding layers of a basic material (1) in the liquid, pasty or powdery state, through irradiation with a light radiation emitted by the plurality of light sources, comprising the operations of: providing a layer of basic material (1); providing light sources (3) to convey, on respective work areas (5) of a surface of the basic material (1) mutually superposed in pairs, respective light beams (4) adapted to selectively modify the basic material (1); defining, for each work area (5), a corresponding reference surface superposed to the work area (5) and a corresponding alignment configuration between them; determining the relative displacements of each work area (5) with respect to the corresponding reference surface adapted to bring the work area (5) to the corresponding alignment configuration. The determination of the relative displacements between each work area (5) and the corresponding reference surface comprises the operations of: providing first image portions (8; 81; 82) on the reference surface; activating the corresponding light source (3) to project on the work surface (2), for each first image portion (8; 81; 82), a corresponding second image portion (9; 91; 92) adjacent to the first image portion (8; 81; 82). Each first image portion (8; 81; 82) and the corresponding second image portion (9; 91; 92) represent, respectively, a first graduated scale (10; 101; 102) and a reading cursor (11), or vice versa, configured to indicate, in combination with each other, a misalignment between the two image portions (8, 9; 81, 91; 82, 92).
(FR) L’invention concerne un procédé d’étalonnage d’une pluralité de sources de lumière (3) appartenant à une machine de fabrication additive conçue pour fabriquer des objets tridimensionnels en couches par solidification sélective de couches correspondantes d’un matériau de base (1) à l’état liquide, pâteux ou pulvérulent, par irradiation avec un rayonnement lumineux émis par la pluralité de sources de lumière, le procédé comprenant les opérations consistant à : fournir une couche de matériau de base (1) ; fournir des sources de lumière (3) pour transporter, sur des zones de travail respectives (5) d’une surface du matériau de base (1) qui sont mutuellement superposées par paires, des faisceaux lumineux respectifs (4) conçus pour modifier sélectivement le matériau de base (1) ; définir, pour chaque zone de travail (5), une surface de référence correspondante superposée à la zone de travail (5) et une configuration d’alignement correspondante qui les relie ; déterminer les déplacements relatifs de chaque zone de travail (5) par rapport à la surface de référence correspondante conçue pour amener la zone de travail (5) sur la configuration d’alignement correspondante. La détermination des déplacements relatifs entre chaque zone de travail (5) et la surface de référence correspondante comprend les opérations consistant à : disposer des premières parties d’image (8 ; 81 ; 82) sur la surface de référence ; activer la source de lumière correspondante (3) pour projeter sur la surface de travail (2), pour chaque première partie d’image (8 ; 81 ; 82), une deuxième partie d’image correspondante (9 ; 91 ; 92) adjacente à la première partie d’image (8 ; 81 ; 82). Chaque première partie d’image (8 ; 81 ; 82) et la deuxième partie d’image correspondante (9 ; 91 ; 92) représentent, respectivement, une première échelle graduée (10 ; 101 ; 102) et un curseur de lecture (11), ou vice versa, conçus pour signaler, en combinaison l’un avec l’autre, un défaut d’alignement entre les deux parties d’image (8, 9 ; 81, 91 ; 82, 92).
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: Italian (IT)