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1. (WO2018122450) AN ARTIFACT FOR IMPROVING VERTICAL RESOLUTION OF RADIATION-BASED IMAGING
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Pub. No.: WO/2018/122450 International Application No.: PCT/FI2017/050875
Publication Date: 05.07.2018 International Filing Date: 12.12.2017
IPC:
G01B 11/25 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11
Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24
for measuring contours or curvatures
25
by projecting a pattern, e.g. moiré fringes, on the object
Applicants:
HELSINGIN YLIOPISTO [FI/FI]; PL 3 (Fabianinkatu 33) 00014 Helsingin yliopisto, FI
ÅBO AKADEMI (ÅBO AKADEMI UNIVERSITY) [FI/FI]; Domkyrkotorget 1 20500 Turku, FI
Inventors:
KASSAMAKOV, Ivan; FI
HÆGGSTRÖM, Edward; FI
SANDLER, Niklas; FI
NOLVI, Anton; FI
VIITALA, Tapani; FI
PEREZ, Alejandro Garcia; FI
Agent:
FINNPATENT OY; Smart Chemistry Park Raisionkaari 55 21200 Raisio, FI
Priority Data:
2016603928.12.2016FI
Title (EN) AN ARTIFACT FOR IMPROVING VERTICAL RESOLUTION OF RADIATION-BASED IMAGING
(FR) ARTÉFACT POUR AMÉLIORER LA RÉSOLUTION VERTICALE D'UNE IMAGERIE PAR RAYONNEMENT
Abstract:
(EN) An artifact (100) for improving the vertical resolution of radiation-based imaging is presented. The artifact has a stepped thickness profile with steps (106-110). Adjacent steps are arranged to interact differently with radiation used in the radiation-based imaging. Thus, it is possible to identify which step is, in each imaging situation, vertically closest to the imaging plane related to the radiation-based imaging. Thus, a pre-determined vertical position-value related to the closest one of the steps can be used as a vertical position-value related to a radiation-based imaging result obtained in the imaging situation.
(FR) La présente invention concerne un artéfact (100) pour améliorer la résolution verticale d'une imagerie par rayonnement. L'artéfact présente un profil d'épaisseur échelonné avec des échelons (106-110). Les échelons adjacents sont agencés pour interagir différemment avec le rayonnement utilisé dans l'imagerie par rayonnement. Ainsi, il est possible d'identifier l'échelon qui est, dans chaque situation d'imagerie, verticalement le plus proche du plan d'imagerie associé à l'imagerie par rayonnement. Ainsi, une valeur de position verticale prédéfinie associée au plus proche des échelons peut être utilisée en tant que valeur de position verticale associée à un résultat d'imagerie par rayonnement obtenu dans la situation d'imagerie.
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)