WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Options
Query Language
Stem
Sort by:
List Length
Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2018106228) SYSTEMS AND METHODS TO DETERMINE FORMATION PROPERTIES OF HIGH-RESISTIVITY FORMATIONS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2018/106228 International Application No.: PCT/US2016/065405
Publication Date: 14.06.2018 International Filing Date: 07.12.2016
IPC:
E21B 47/00 (2006.01) ,G01V 11/00 (2006.01) ,G01V 3/32 (2006.01) ,G01V 1/40 (2006.01)
E FIXED CONSTRUCTIONS
21
EARTH OR ROCK DRILLING; MINING
B
EARTH OR ROCK DRILLING; OBTAINING OIL, GAS, WATER, SOLUBLE OR MELTABLE MATERIALS OR A SLURRY OF MINERALS FROM WELLS
47
Survey of boreholes or wells
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
V
GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
11
Prospecting or detecting by methods combining techniques covered by two or more of main groups G01V1/-G01V9/147
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
V
GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
3
Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination or deviation
18
specially adapted for well-logging
32
operating with electron or nuclear magnetic resonance
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
V
GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
1
Seismology; Seismic or acoustic prospecting or detecting
40
specially adapted for well-logging
Applicants: HALLIBURTON ENERGY SEVICES, INC.[US/US]; 3000 N. Sam Houston Pkwy E. Houston, TX 77032, US
Inventors: HOU, Junsheng; US
Agent: HILTON, Robert; US
GROSS, Charles; US
COLLINS, Darren; US
PICKELL, Aaron; US
Priority Data:
Title (EN) SYSTEMS AND METHODS TO DETERMINE FORMATION PROPERTIES OF HIGH-RESISTIVITY FORMATIONS
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR DÉTERMINER DES PROPRIÉTÉS DE FORMATION DE FORMATIONS À HAUTE RÉSISTIVITÉ
Abstract:
(EN) The disclosed embodiments include a method to determine formation properties of a downhole formation and a downhole logging system. In one embodiment, the method includes obtaining a first set of measurements of a formation from a multi-component induction logging tool and performing an inversion process of the first set of measurements to determine a first set of values for one or more formation properties of the formation. The method also includes determining a second set of values for the model parameters based on the measurements of a second logging tool. The method further includes comparing values of the first set of values with corresponding values of the second set of values to determine a data quality of the values of the first set of values and accepting the values of the first set of values if the data quality of the values is above a first threshold.
(FR) Les modes de réalisation de la présente invention comprennent un procédé pour déterminer des propriétés de formation d'une formation de fond de trou et un système de diagraphie de fond de trou. Dans un mode de réalisation, le procédé consiste à obtenir un premier ensemble de mesures d'une formation à partir d'un outil de diagraphie par induction à plusieurs éléments, et à réaliser un processus d'inversion du premier ensemble de mesures pour déterminer un premier ensemble de valeurs pour une ou plusieurs propriétés de formation de la formation. Le procédé consiste également à déterminer un second ensemble de valeurs pour les paramètres modèles sur la base des mesures d'un second outil de diagraphie. Le procédé consiste en outre à comparer les valeurs du premier ensemble de valeurs avec des valeurs correspondantes du second ensemble de valeurs pour déterminer une qualité de données des valeurs du premier ensemble de valeurs, et à accepter les valeurs du premier ensemble de valeurs si la qualité de données des valeurs est supérieure à un premier seuil.
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)