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1. (WO2018105611) SCINTILLATOR ARRAY, METHOD OF MANUFACTURING SCINTILLATOR ARRAY, RADIATION DETECTOR, AND RADIATION INSPECTING DEVICE
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Pub. No.:    WO/2018/105611    International Application No.:    PCT/JP2017/043646
Publication Date: 14.06.2018 International Filing Date: 05.12.2017
IPC:
G21K 4/00 (2006.01), A61B 6/03 (2006.01), G01T 1/20 (2006.01)
Applicants: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA [JP/JP]; 1-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058001 (JP).
TOSHIBA MATERIALS CO., LTD. [JP/JP]; 8, Shinsugita-cho, Isogo-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2358522 (JP)
Inventors: HAYASHI Makoto; (JP).
KONDO Hiroyasu; (JP).
ICHIKAWA Hiroshi; (JP).
ADACHI Yoshitaka; (JP).
FUKUTA Yukihiro; (JP)
Agent: SAKURA PATENT OFFICE, P.C.; Yoshizawa Bldg., 18-14, Uchikanda 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1010047 (JP)
Priority Data:
2016-236921 06.12.2016 JP
Title (EN) SCINTILLATOR ARRAY, METHOD OF MANUFACTURING SCINTILLATOR ARRAY, RADIATION DETECTOR, AND RADIATION INSPECTING DEVICE
(FR) RÉSEAU DE SCINTILLATEURS, PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN RÉSEAU DE SCINTILLATEURS, DÉTECTEUR DE RAYONNEMENT ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE RAYONNEMENT
(JA) シンチレータアレイ、シンチレータアレイを製造する方法、放射線検出器、および放射線検査装置
Abstract: front page image
(EN)This scintillator array is provided with: a first scintillator element; a second scintillator element; and a reflector which is provided between the first and second scintillator elements, and the width of which between the first and second scintillator elements is at most equal to 80 μm. Each of the first and second scintillator elements is provided with a polycrystalline body containing rare earth oxysulfide phosphor, and each polycrystalline body has a radiation incidence surface with a surface area of 1 mm or less × 1 mm or less. The average crystal grain diameter of the crystal grains in the polycrystalline body is at least equal to 5 μm and at most equal to 30 μm, where the average crystal grain diameter is defined to be the average segment length of crystal grains measured in an observation image obtained by observing the polycrystalline body using a scanning electron microscope. The maximum length or maximum diameter of defects present in the surface of the polycrystalline body is at most equal to 40 μm.
(FR)L'invention concerne un réseau de scintillateurs pourvu : d'un premier élément scintillateur ; d'un second élément scintillateur ; et d'un réflecteur qui est placé entre les premier et second éléments scintillateurs, et dont la largeur entre les premier et second éléments scintillateurs est au plus égale à 80 µm. Les premier et second éléments scintillateurs sont pourvus chacun d'un corps polycristallin contenant un phosphore d'oxysulfure de terres rares, et chaque corps polycristallin a une surface d'incidence de rayonnement ayant une superficie de 1 mm ou moins x 1 mm ou moins. Le diamètre de grain cristallin moyen des grains cristallins dans le corps polycristallin est au moins égal à 5 µm et au plus égal à 30 µm, le diamètre de grain cristallin moyen étant défini comme étant la longueur de segment moyenne de grains cristallins mesurée dans une image d'observation obtenue par observation du corps polycristallin à l'aide d'un microscope électronique à balayage. La longueur maximale ou le diamètre maximal des défauts présents dans la surface du corps polycristallin équivaut à au plus 40 µm.
(JA)シンチレータアレイは、第1のシンチレータ素子と、第2のシンチレータ素子と、第1および第2のシンチレータ素子の間に設けられ、第1および第2のシンチレータ素子の間の幅が80μm以下である反射体と、を具備する。第1および第2のシンチレータ素子のそれぞれは、希土類酸硫化物蛍光体を含有する多結晶体を備え、多結晶体が面積1mm以下×1mm以下の放射線入射面を有する。多結晶体の結晶粒の平均結晶粒径は5μm以上30μm以下であり、平均結晶粒径が、走査型電子顕微鏡を用いて多結晶体を観察することにより得られる観察像上で測定される結晶粒の平均切片長により定義される。多結晶体の表面に存在する欠陥の最大長さまたは最大直径は、40μm以下である。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)