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1. (WO2018105316) PROBING PIN AND IC SOCKET
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Pub. No.: WO/2018/105316 International Application No.: PCT/JP2017/040683
Publication Date: 14.06.2018 International Filing Date: 13.11.2017
IPC:
H01R 33/76 (2006.01) ,G01R 1/067 (2006.01) ,H01R 13/24 (2006.01)
Applicants: NEVERG CO., LTD.[JP/JP]; 1030-1, Kosono, Ayase-shi, Kanagawa 2521121, JP
Inventors: OKUMA, Masafumi; JP
Agent: OKUBO, Katsuyuki; JP
Priority Data:
2016-23591305.12.2016JP
Title (EN) PROBING PIN AND IC SOCKET
(FR) BROCHE DE SONDAGE ET SUPPORT DE CIRCUIT INTÉGRÉ
(JA) プローブピンおよびICソケット
Abstract: front page image
(EN) Provided is, as a probing pin that performs a wiping operation during use and that is also economical, an anisotropically conductive member (probing pin 1) equipped with a coil spring 13 and a contact member having a first contact 11 and a second contact 12. With a first electrode contact section 111 from the first contact 11, a second electrode contact section 121 from the second contact 12, and a base board contact section 141 serving as a contact section, when a force compressing the coil spring is imparted in a direction along a conductive direction, the first contact 11 can be operated to incline in a first orientation that is one of the plate width directions while being in contact with the coil spring 13 at a first internal contact section 114, and the second contact 12 can be operated to incline in a second orientation that is in the other plate width direction and in the opposing orientation from the first orientation, while being in contact with the coil spring 13 at a second interior contact section 124.
(FR) L'invention concerne, en tant que broche de sondage qui effectue une opération d'essuyage pendant l'utilisation et qui est également économique, un élément conducteur anisotrope (broche de sondage 1) équipé d'un ressort hélicoïdal 13 et d'un élément de contact ayant un premier contact 11 et un second contact 12. Avec une première section de contact d'électrode 111 à partir du premier contact 11, une seconde section de contact d'électrode 121 à partir du second contact 12, et une section de contact de carte de base 141 servant de section de contact, lorsqu'une force comprimant le ressort hélicoïdal est communiquée dans une direction le long d'une direction conductrice, le premier contact 11 peut être actionné pour s'incliner dans une première orientation qui est l'une des directions de largeur de plaque tout en étant en contact avec le ressort hélicoïdal 13 au niveau d'une première section de contact interne 114, et le second contact 12 peut être actionné pour s'incliner dans une seconde orientation qui est dans l'autre direction de largeur de plaque et dans l'orientation opposée à partir de la première orientation, tout en étant en contact avec le ressort hélicoïdal 13 au niveau d'une seconde section de contact intérieur 124.
(JA) 使用時においてワイピング動作し、経済性にも優れたプローブピンとして、コイルバネ13および第1コンタクト11と第2コンタクト12とを有するコンタクト部材を備える異方導電性部材(プローブピン1)であって、第1コンタクト11の第1電極接触部111および第2コンタクト12の第2電極接触部121ならびに基板接触部141を接触部として導電方向に沿った方向にコイルバネを圧縮する力が付与されたときに、第1コンタクト11は、第1内部接触部114においてコイルバネ13に接触しつつ、板幅方向の一方である第1の向きに傾く動作が可能であって、第2コンタクト12は、第2内部接触部124においてコイルバネ13に接触しつつ、板幅方向の他方であって第1の向きとは反対向きの第2の向きに傾く動作が可能であるプローブピンが提供される。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)