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1. (WO2018105169) GAS ANALYZING DEVICE AND GAS ANALYZING METHOD
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Pub. No.: WO/2018/105169 International Application No.: PCT/JP2017/029279
Publication Date: 14.06.2018 International Filing Date: 14.08.2017
IPC:
G01N 1/22 (2006.01) ,G01N 1/00 (2006.01)
Applicants: HORIBA, LTD.[JP/JP]; 2, Miyanohigashi-cho, Kisshoin, Minami-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6018510, JP
Inventors: YOSHIMURA, Tomoshi; JP
Agent: NISHIMURA, Ryuhei; JP
Priority Data:
2016-23814308.12.2016JP
Title (EN) GAS ANALYZING DEVICE AND GAS ANALYZING METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE GAZ
(JA) ガス分析装置及びガス分析方法
Abstract: front page image
(EN) In order to ensure a separation ability required of an oxidation catalyst such as a non-methane cutter, and to enable a sample gas to be measured accurately, this gas analyzing device is provided with: a sample gas line L1 through which a sample gas flows; an analyzer 10 which is provided in the sample gas line L1 and which detects the concentration of a specific component contained in the sample gas; a catalyst 20 which is provided upstream of the analyzer 10 in the sample gas line L1 and which reacts with the sample gas; and a moisture concentration adjusting unit 30 which is provided upstream of the catalyst 20 in the sample gas line L1 to adjust the moisture concentration of the sample gas.
(FR) Afin d'assurer la capacité de séparation exigée d'un catalyseur d'oxydation tel qu'un dispositif de coupe sans méthane et afin de permettre à un échantillon de gaz d'être mesuré avec précision, l'invention concerne un dispositif d'analyse de gaz qui est pourvu : d'une ligne d'échantillon gazeux L1 à travers laquelle s'écoule un échantillon gazeux ; d'un analyseur 10 situé dans la ligne d'échantillon gazeux L1 et qui détecte la concentration d'un composant particulier contenu dans l'échantillon gazeux ; d'un catalyseur 20 situé en amont de l'analyseur 10 dans la ligne d'échantillon gazeux L1 et qui réagit avec l'échantillon gazeux ; d'une unité de réglage de la concentration d'humidité 30 située en amont du catalyseur 20 dans la ligne d'échantillon gazeux L1 afin de régler la concentration d'humidité de l'échantillon gazeux.
(JA) ノンメタンカッタなどの酸化触媒に要求される分離能を担保して、サンプルガスを精度良く測定できるようにすべく、サンプルガスが流れるサンプルガスラインL1と、サンプルガスラインL1に設けられ、サンプルガスに含まれる特定成分の濃度を検出する分析計10と、サンプルガスラインL1における分析計10の上流側に設けられ、サンプルガスと反応する触媒20と、サンプルガスラインL1における触媒20の上流側に設けられ、サンプルガスの水分濃度を調整する水分濃度調整部30とを備えるようにした。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)