WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2018105026) LASER SCANNING MICROSCOPE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.:    WO/2018/105026    International Application No.:    PCT/JP2016/086133
Publication Date: 14.06.2018 International Filing Date: 06.12.2016
IPC:
G02B 21/00 (2006.01)
Applicants: OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 2951 Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507 (JP)
Inventors: IMOTO, Kentaro; (JP).
DOI, Atsushi; (JP).
TANAKA, Ryusuke; (JP).
TSUBOI, Hidenori; (JP)
Agent: UEDA, Kunio; (JP).
YANAGI, Junichiro; (JP).
OGURI, Mayumi; (JP).
TAKEUCHI, Kuniyoshi; (JP)
Priority Data:
Title (EN) LASER SCANNING MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE À BALAYAGE LASER
(JA) レーザ走査型顕微鏡
Abstract: front page image
(EN)The purpose of the present invention is to acquire an image wherein the image parameters and feature amounts change without radiating a sample with another laser. A laser scanning microscope (1) according to the present invention comprises: a scanning unit (3) for scanning a sample (A) with laser light; a detection unit (6) for detecting signal light generated at each laser light scanning position of the scanning unit; a recording unit (8) for mapping and recording detection signals detected by the detection unit in a period shorter than an exposure period and each scanning position at a time the detection signal is detected; an input unit (9) for inputting image preparation information; and an image generation unit (7) for generating an image using the detection signals and scanning positions recorded in the recording unit on the basis of the image preparation information entered via the input unit.
(FR)La présente invention a pour objet d'acquérir une image dans laquelle les paramètres d'image et les quantités de caractéristiques changent sans irradier un échantillon avec un autre laser. La présente invention réalise à cet effet un microscope à balayage laser (1) qui comprend : une unité de balayage (3) destinée à balayer un échantillon (A) avec de la lumière laser ; une unité de détection (6) destinée à détecter une lumière de signal générée à chaque position de balayage par la lumière laser de l'unité de balayage ; une unité d'enregistrement (8) destinée à mettre en correspondance et à enregistrer des signaux de détection détectés par l'unité de détection dans une période plus courte qu'une période d'exposition et chaque position de balayage à un moment où le signal de détection est détecté ; une unité d'entrée (9) destinée à entrer des informations de préparation d'image ; et une unité de génération d'image (7) destinée à générer une image en utilisant les signaux de détection et les positions de balayage enregistrés dans l'unité d'enregistrement sur la base des informations de préparation d'image entrées par le biais de l'unité d'entrée.
(JA)レーザ光を標本に再度照射することなく、画像パラメータや特徴量を変更した画像を取得することを目的として、本発明に係るレーザ走査型顕微鏡(1)は、標本(A)においてレーザ光を走査させる走査部(3)と、走査部によるレーザ光の各走査位置において発生した信号光を検出する検出部(6)と、検出部により露光時間より短い周期で検出された検出信号と、検出信号が検出された時点における各走査位置とを対応づけて記録する記録部(8)と、画像作成情報を入力する入力部(9)と、入力部により入力された画像作成情報に基づいて、記録部に記録されている検出信号と走査位置とを用いて画像を生成する画像生成部(7)とを備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)