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1. (WO2018103434) INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD
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Pub. No.: WO/2018/103434 International Application No.: PCT/CN2017/103972
Publication Date: 14.06.2018 International Filing Date: 28.09.2017
IPC:
G01V 5/00 (2006.01) ,G01N 23/00 (2006.01)
Applicants: TSINGHUA UNIVERSITY[CN/CN]; No.1, Tsinghua Yuan, Haidian District Beijing 100084, CN
NUCTECH COMPANY LIMITED[CN/CN]; 2nd Floor, Block A,TongFang Building, Shuangqinglu, Haidian District Beijing 100084, CN
Inventors: KANG, Kejun; CN
CHENG, Jianping; CN
CHEN, Zhiqiang; CN
ZHAO, Ziran; CN
LI, Junli; CN
WANG, Xuewu; CN
ZENG, Zhi; CN
ZENG, Ming; CN
WANG, Yi; CN
ZHANG, Qingjun; CN
GU, Jianping; CN
YI, Qian; CN
LIU, Bicheng; CN
XU, Guangming; CN
WANG, Yongqiang; CN
Agent: CHINA SCIENCE PATENT & TRADEMARK AGENT LTD.; Suite 4-1105, No. 87, West 3rd Ring North Rd., Haidian Beijing 100089, CN
Priority Data:
201611116487.507.12.2016CN
Title (EN) INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF D’INSPECTION ET PROCÉDÉ D’INSPECTION
(ZH) 检查设备和检查方法
Abstract: front page image
(EN) An inspection device (100) and an inspection method. The inspection method comprises the steps of: performing an x-ray scan on an inspected object (120) to produce an image of the inspected object (120) (S510); dividing the image of the inspected object (120) to determine at least one area of interest (S520); detecting interactions between cosmic rays and the area of interest to produce a detection value (S530); calculating a scattering characteristic value and/or an absorption characteristic value of the cosmic rays in the area of interest on the basis of size information of the area of interest and of the detection value (S540); and utilizing the scattering characteristic value and/or the absorption characteristic value to distinguish material properties of the area of interest (S550). The inspection method increases the accuracy of an inspection and inspection efficiency.
(FR) L’invention concerne un dispositif d’inspection (100) et un procédé d’inspection. Les étapes du procédé d’inspection consistent : à procéder à un balayage aux rayons X sur un objet inspecté (120) pour produire une image de l’objet inspecté (120) (S510) ; à diviser l’image de l’objet inspecté (120) pour déterminer au moins une zone d’intérêt (S520) ; à détecter des interactions entre des rayons cosmiques et la zone d’intérêt pour produire une valeur de détection (S530) ; à calculer une valeur caractéristique de diffusion et/ou une valeur caractéristique d’absorption des rayons cosmiques dans la zone d’intérêt sur la base d’informations de taille de la zone d’intérêt et de la valeur de détection (S540) ; et à utiliser la valeur caractéristique de diffusion et/ou la valeur caractéristique d’absorption pour distinguer des propriétés matérielles de la zone d’intérêt (S550). Le procédé d’inspection accroît la précision d’une inspection et l’efficacité d’inspection.
(ZH) 一种检查设备(100)和检查方法。该检查方法包括步骤:对被检查物体(120)进行X射线扫描以产生被检查物体(120)的图像(S510);对被检查物体(120 )的图像进行分割以确定至少一个感兴趣区域(S520);探测宇宙射线与感兴趣区域的相互作用,得到探测值(S530);基于感兴趣区域的尺寸信息和探测值计算宇宙射线在感兴趣区域的散射特性值和/或吸收特性值(S540);以及利用散射特性值和/或吸收特性值分辨感兴趣区域的材料属性(S550)。该检查方法能够提高检查的准确性和检查效率。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)