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1. (WO2018103280) DETECTION METHOD AND DETECTION APPARATUS USED THEREWITH
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Pub. No.: WO/2018/103280 International Application No.: PCT/CN2017/086265
Publication Date: 14.06.2018 International Filing Date: 27.05.2017
IPC:
G02F 1/13 (2006.01)
G PHYSICS
02
OPTICS
F
DEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
1
Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
01
for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
13
based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
Applicants:
惠科股份有限公司 HKC CORPORATION LIMITED [CN/CN]; 中国广东省深圳市 宝安区石岩街道水田村民营工业园惠科工业园 Huike Industrial Park Minying Industrial Park, Shuitian Country, Shiyan, Bao'an District Shenzhen, Guangdong 518000, CN
重庆惠科金渝光电科技有限公司 CHONGQING HKC OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国重庆市 巴南区界石镇石景路1号 No.1 Shijing Rd. Jieshi, Ba'nan District Chongqing 404100, CN
Inventors:
简重光 CHIEN, Chungkuang; CN
Agent:
深圳中一专利商标事务所 SHENZHEN ZHONGYI PATENT AND TRADEMARK OFFICE; 中国广东省深圳市 福田区深南中路1014号老特区报社四楼(5号信箱) 4th Fl. (PO Box No.5) Old Shenzhen Special Zone Newspaper Building No. 1014 Shennan Middle Road, Futian District Shenzhen, Guangdong 518028, CN
Priority Data:
201611108938.006.12.2016CN
Title (EN) DETECTION METHOD AND DETECTION APPARATUS USED THEREWITH
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION ET APPAREIL DE DÉTECTION UTILISÉ AVEC CELUI-CI
(ZH) 检测方法及其应用的检测设备
Abstract:
(EN) A detection method and a detection apparatus used therewith. The detection method comprises the following steps: detecting whether a display panel has a defective location (11); after detecting and obtaining the defective location(s) (11) of the entire display panel, using a first focused ion beam emitted by a first ion detection and repairing device (20) to incise the defective location (11) of the display panel, so as to remove the defect from the defective location (11) and observe the profile of the defect; and then, using a repairing device (40) to repair the defective location (11) from which the defect was removed,, the detection device detecting the defective location (11), the first ion detection and repairing device (20) and the repairing device (40) being installed in sequence on the same detection and repairing production line.
(FR) La présente invention concerne un procédé de détection et un appareil de détection utilisé avec celui-ci. Le procédé de détection comprend les étapes suivantes : détecter si un panneau d’affichage présente un emplacement défectueux (11) ; après la détection et l’obtention du ou des emplacement(s) défectueux (11) du panneau d’affichage entier, au moyen d’un premier faisceau d’ions focalisé émis par un premier dispositif de détection d’ions et de réparation (20) pour inciser l’emplacement défectueux (11) du panneau d’affichage, de façon à éliminer le défaut de l’emplacement défectueux (11) et observer le profil du défaut ; et ensuite, au moyen d’un dispositif de réparation (40) pour réparer l’emplacement défectueux (11) duquel le défaut a été éliminé, le dispositif de détection détectant l’emplacement défectueux (11), le premier dispositif de détection d’ions et de réparation (20) et le dispositif de réparation (40) étant installés en séquence sur la même ligne de production de détection et de réparation.
(ZH) 一种检测方法及其应用的检测设备,其中,检测方法包括以下步骤:检测显示面板是否具有缺陷位置(11);在检测获得整块显示面板上的缺陷位置(11)后,利用第一离子检修装置(20)发出的第一束聚焦离子束对显示面板上的缺陷位置(11)进行切割,以将缺陷位置(11)处的缺陷进行剥离并观察缺陷形貌;然后,应用修复装置(40)对剥离缺陷之后的缺陷位置(11)进行修复处理;其中,检测缺陷位置(11)的检测装置、第一离子检修装置(20)和修复装置(40)顺序安装在同一条检测修复生产线上。
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)