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1. (WO2018102147) SYSTEM AND METHOD FOR ESTIMATING AND COMPENSATING FOR SAMPLE DRIFT DURING DATA ACQUISITION IN FLUORESCENCE MICROSCOPY
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Pub. No.: WO/2018/102147 International Application No.: PCT/US2017/062125
Publication Date: 07.06.2018 International Filing Date: 17.11.2017
IPC:
G02B 21/36 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01)
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21
Microscopes
36
arranged for photographic purposes or projection purposes
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
62
Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63
optically excited
64
Fluorescence; Phosphorescence
Applicants:
UNIVERSITY OF PITTSBURGH-OF THE COMMONWEALTH SYSTEM OF HIGHER EDUCATION [US/US]; 1st Floor Gardner Steel Conference Center 130 Thackeray Avenue Pittsburgh, Pennsylvania 15260, US
Inventors:
MA, Hongqiang; US
LIU, Yang; US
Agent:
LEVY, Philip E.; US
Priority Data:
62/427,21729.11.2016US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD FOR ESTIMATING AND COMPENSATING FOR SAMPLE DRIFT DURING DATA ACQUISITION IN FLUORESCENCE MICROSCOPY
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ESTIMATION ET DE COMPENSATION DE DÉRIVE D'ÉCHANTILLON PENDANT L'ACQUISITION DE DONNÉES EN MICROSCOPIE DE FLUORESCENCE
Abstract:
(EN) A method of estimating relative change of the 3D position of an object (e.g., sample drift in a microscopy system) having fiduciary markers that have an asymmetric joint point spread function distribution includes generating a plurality of calibration curves for each of the markers during a calibration phase including first calibration curves for a PSF width and second calibration curves for lateral bias. The method further includes capturing a first image of the markers during a data acquisition phase, generating a first joint 3D position for the markers using the first image, the first calibration curves and the second calibration curves, capturing a second image of the markers during the data acquisition phase, generating a second joint 3D position for the markers using the second image and the first and second calibration curves, and estimating the sample drift using the first joint 3D position and the second joint 3D position.
(FR) L'invention concerne un procédé d'estimation d'un changement relatif de la position 3D d'un objet (par exemple, dérive d'échantillon dans un système de microscopie) comportant des repères de référence, qui présentent une distribution de fonction d'étalement du point commun asymétrique. Ce procédé consiste à : générer une pluralité de courbes d'étalonnage pour chacun des repères pendant une phase d'étalonnage, incluant des premières courbes d'étalonnage pour une largeur PSF, et des deuxièmes courbes d'étalonnage pour une distorsion latérale ; capturer une première image des marqueurs pendant une phase d'acquisition de données ; générer une première position 3D commune pour les marqueurs à l'aide de la première image, des premières courbes d'étalonnage et des deuxièmes courbes d'étalonnage ; capturer une deuxième image des marqueurs pendant la phase d'acquisition de données ; générer une deuxième position 3D commune pour les marqueurs à l'aide de la deuxième image et des premières et deuxièmes courbes d'étalonnage ; et estimer la dérive d'échantillon à l'aide de la première position 3D commune et de la deuxième position 3D commune.
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)