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1. (WO2018100621) IONIZER AND MASS SPECTROMETER
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Pub. No.:    WO/2018/100621    International Application No.:    PCT/JP2016/085353
Publication Date: 07.06.2018 International Filing Date: 29.11.2016
IPC:
G01N 27/62 (2006.01), H01J 49/10 (2006.01)
Applicants: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventors: UEDA, Manabu; (JP)
Agent: KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Priority Data:
Title (EN) IONIZER AND MASS SPECTROMETER
(FR) IONISEUR ET SPECTROMÈTRE DE MASSE
(JA) イオン化装置及び質量分析装置
Abstract: front page image
(EN)Provided are an ionizer and a mass spectrometer in which a standard sample supply unit (21) for introducing a standard sample into an ionizing chamber in which the atmosphere is at approximately atmospheric pressure comprises: a sample container (213) in which a standard sample is accommodated; a gas flow path (212); a sample flow path (214) having one end connected to an intermediate location in the gas flow path (212) and the other end connected to the sample container (213); and a gas supply unit (211) that supplies a gas within the gas flow path (212). When gas is supplied within the gas flow path (212) from the gas supply unit (211), the sample within the sample container (213) is aspirated via the sample flow path (214) by the Venturi effect, mixed with the flow of gas, and introduced into the ionizing chamber. Solvent molecule ions are generated in the ionizing chamber by the ESI method or the like and sample component molecules are ionized by an ion-molecule reaction. As a result, components derived from a standard sample are stably introduced into the ionizing chamber by a route differing from that of an ionizing probe and it is possible to ionize the components.
(FR)L'invention concerne un ioniseur et un spectromètre de masse, une unité d'alimentation en échantillon-type (21), qui est destinée à introduire un échantillon-type dans une chambre d'ionisation dont l'atmosphère a une pression proche de la pression atmosphérique, comprenant : un récipient à échantillon (213) dans lequel un échantillon type est accueilli ; une voie d'écoulement de gaz (212) ; une voie d'écoulement d'échantillon (214) dont une extrémité est reliée à un point intermédiaire de la voie d'écoulement de gaz (212) et l'autre extrémité est reliée au récipient à échantillon (213) ; et une unité d'alimentation en gaz (211) qui introduit un gaz dans la voie d'écoulement de gaz (212). Lorsque du gaz est introduit dans la voie d'écoulement de gaz (212) depuis l'unité d'alimentation en gaz (211), l'échantillon contenu dans le récipient (213) est aspiré en passant par la voie d'écoulement d'échantillon (214) grâce à l'effet Venturi, mélangé au flux de gaz et introduit dans la chambre d'ionisation. Des ions accompagnés de molécules de solvant sont générés dans la chambre d'ionisation par le procédé d’ionisation par électronébulisation ou similaire et les molécules composants l'échantillon sont ionisées par une réaction ion-molécule. Par conséquent, des composants dérivés d'un échantillon-type sont introduits de façon stable dans la chambre d'ionisation par un chemin différent de celui d'une sonde d'ionisation et il est possible d'ioniser les composants.
(JA)略大気圧雰囲気であるイオン化室に標準試料を導入するための標準試料供給部(21)は、標準試料が収容された試料容器(213)と、ガス流路(212)と、該ガス流路(212)の途中に一端が接続され他端が試料容器(213)に接続された試料流路(214)と、ガス流路(212)中にガスを送給するガス送給部(211)と、を含む。ガス送給部(211)からガス流路(212)中にガスを送給すると、ベンチュリ効果によって試料流路(214)を通して試料容器(213)内の試料が吸引され、ガスの流れに混合されてイオン化室に導入される。イオン化室ではESI法等により溶媒分子イオンが生成され、試料成分分子はイオン-分子反応によりイオン化される。これにより、イオン化プローブとは異なる経路でイオン化室内に標準試料由来の成分を安定的に導入し、該成分をイオン化することができる。 
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)