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1. (WO2018089044) MATERIAL EROSION MONITORING SYSTEM AND METHOD
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Pub. No.: WO/2018/089044 International Application No.: PCT/US2017/029309
Publication Date: 17.05.2018 International Filing Date: 25.04.2017
IPC:
G01B 15/02 (2006.01) ,F27D 21/00 (2006.01) ,G01B 7/06 (2006.01) ,G01B 9/02 (2006.01) ,G01B 11/06 (2006.01) ,G01B 15/04 (2006.01) ,G01K 1/02 (2006.01)
[IPC code unknown for G01B 15/02][IPC code unknown for F27D 21][IPC code unknown for G01B 7/06][IPC code unknown for G01B 9/02][IPC code unknown for G01B 11/06][IPC code unknown for G01B 15/04][IPC code unknown for G01K 1/02]
Applicants:
PANERATECH, INC. [US/US]; Ste. 200 4125 Lafayette Center Drive Chantilly, Virginia 20151, US
Inventors:
RUEGE, Alexander C.; US
BAYRAM, Yakup; US
Agent:
STONE, Gregory; US
DAVIS, Peter; US
TILLER, Steven; US
Priority Data:
15/346,16108.11.2016US
Title (EN) MATERIAL EROSION MONITORING SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE SURVEILLANCE D'ÉROSION DE MATÉRIAU
Abstract:
(EN) Disclosed is an improved system and method to evaluate the status of a material. The system and method are operative to identify flaws and measure the erosion profile and thickness of different materials, including refractory materials, using electromagnetic waves. The system is designed to reduce a plurality of reflections, associated with the propagation of electromagnetic waves launched into the material under evaluation, by a sufficient extent so as to enable detection of electromagnetic waves of interest reflected from remote discontinuities of the material. Furthermore, the system and method utilize a configuration and signal processing techniques that reduce clutter and enable the isolation of electromagnetic waves of interest. Moreover, the launcher is impedance matched to the material under evaluation, and the feeding mechanism is designed to mitigate multiple reflection effects to further suppress clutter.
(FR) L'invention concerne un système et un procédé améliorés permettant d'évaluer l'état d'un matériau. Le système et le procédé sont opérants pour identifier des défauts et pour mesurer le profil d'érosion et l'épaisseur de différents matériaux, y compris des matériaux réfractaires, au moyen d'ondes électromagnétiques. Le système est conçu pour réduire une pluralité de réflexions, associées à la propagation d'ondes électromagnétiques émises vers un matériau en cours d'évaluation, dans une mesure suffisante pour permettre la détection d'ondes électromagnétiques d'intérêt réfléchies à partie de discontinuités distantes du matériau. De plus, le système et le procédé font appel à une configuration et à des techniques de traitement des signaux qui réduisent le fouillis et permettent d'isoler les ondes électromagnétiques d'intérêt. En outre, l'émetteur est adapté à l'impédance du matériau en cours d'évaluation, et le mécanisme d'alimentation est conçu pour atténuer des effets de réflexion multiple afin d'augmenter la suppression de fouillis.
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)