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1. (WO2018083746) FACILITY DIAGNOSTIC APPARATUS AND FACILITY DIAGNOSTIC METHOD
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Pub. No.: WO/2018/083746 International Application No.: PCT/JP2016/082537
Publication Date: 11.05.2018 International Filing Date: 02.11.2016
Chapter 2 Demand Filed: 16.03.2017
IPC:
G01M 99/00 (2011.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
M
TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
99
Subject matter not provided for in other groups of this subclass
Applicants:
愛知機械工業株式会社 AICHI MACHINE INDUSTRY CO., LTD. [JP/JP]; 愛知県名古屋市熱田区川並町2番12号 2-12, Kawanami-cho, Atsuta-ku, Nagoya-shi, Aichi 4568601, JP
Inventors:
伊藤 一夫 ITO Kazuo; JP
Agent:
福山 正寿 FUKUYAMA Masatoshi; JP
Priority Data:
Title (EN) FACILITY DIAGNOSTIC APPARATUS AND FACILITY DIAGNOSTIC METHOD
(FR) APPAREIL DE DIAGNOSTIC D'INSTALLATION ET PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC D'INSTALLATION
(JA) 設備診断装置および設備診断方法
Abstract:
(EN) [Problem] To provide a facility diagnostic apparatus whereby a device in which an abnormality has occurred can be reliably specified in a facility provided with a plurality of devices having different feature quantities suitable for abnormality detection. [Solution] A plurality of feature quantities (current value I, vibration values fa, fb, stress ST) suitable for sensing an abnormality in a plurality of devices/constituent components constituting a processing facility 10 are detected (steps S102, S108, S120), frequency analysis is performed for the detected feature quantities (steps S114, S126), and a device/constituent component in which an abnormality has occurred is specified on the basis of the result of the frequency analysis (step S118). It is thereby possible for a device/constituent component in which an abnormality has occurred to be specified from detection of a plurality of feature quantities even by a single apparatus, and the apparatus can therefore be simplified and reduced in cost relative to a case in which an apparatus is provided for each feature quantity.
(FR) L'objectif de l'invention est la fourniture d'un appareil de diagnostic d'installation grâce auquel un dispositif dans lequel une anomalie s'est produite peut être spécifié de manière fiable dans une installation pourvue d'une pluralité de dispositifs ayant différentes quantités de caractéristiques appropriées pour une détection d'anomalie. Selon l'invention, une pluralité de quantités de caractéristiques (valeur de courant I, valeurs de vibration fa, fb, contrainte ST) appropriées pour détecter une anomalie dans une pluralité de dispositifs/composants constitutifs constituant une installation de traitement 10 sont détectées (étapes S102, S108, S120), une analyse de fréquence est effectuée pour les quantités de caractéristiques détectées (étapes S114, S126), et un dispositif/composant constitutif dans lequel une anomalie s'est produite est spécifié sur la base du résultat de l'analyse de fréquence (étape S118). Il est ainsi possible qu'un dispositif/composant constitutif dans lequel une anomalie s'est produite soit spécifié à partir de la détection d'une pluralité de quantités de caractéristiques même par un seul appareil, et l'appareil peut ainsi être simplifié et réduit en coût par rapport à un cas dans lequel un appareil est prévu pour chaque quantité de caractéristiques.
(JA) 【課題】異常検出に適した特徴量が異なる複数の機器を備える設備において、異常が生じた機器の特定を確実に行うことができる設備診断装置を提供すること。 【解決手段】加工設備10を構成する複数の機器・構成部品の異常を検知するために適した複数の特徴量(電流値I、振動値fa,fb、応力ST)を検出すると共に(ステップS102、S108、S120)、検出した各特徴量に関して周波数解析を行い(ステップS114、S126)、当該周波数解析結果に基づいて異常が発生した機器・構成部品を特定する(ステップS118)。これにより、複数の特徴量の検出から異常が発生した機器・構成部品の特定までを一つの装置で行うことができるため、各特徴量毎に装置を設ける場合に比べて装置の簡素化およびコスト低減を図ることができる。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)