WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2018078712) PATTERN RECOGNITION APPARATUS, METHOD AND MEDIUM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2018/078712 International Application No.: PCT/JP2016/081510
Publication Date: 03.05.2018 International Filing Date: 25.10.2016
IPC:
G06T 7/00 (2006.01)
Applicants: NEC CORPORATION[JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001, JP
Inventors: MAHTO Shivangi; JP
YAMAMOTO Hitoshi; JP
KOSHINAKA Takafumi; JP
Agent: SHIMOSAKA Naoki; JP
Priority Data:
Title (EN) PATTERN RECOGNITION APPARATUS, METHOD AND MEDIUM
(FR) APPAREIL, PROCÉDÉ ET SUPPORT DE RECONNAISSANCE DE MOTIFS
Abstract: front page image
(EN) For improving classification accuracy, A pattern recognition apparatus of the present invention includes: feature transform means for transforming noisy feature vectors into denoised feature vectors; classifying means for classifying the denoised feature vectors into their corresponding classes and estimating classes; objective function calculate means for calculating a cost using the denoised feature vectors, the clean feature vectors, the estimated classes, and feature vector labels; and parameter update means for updating parameters of the feature transform means according to the cost.
(FR) Afin d’améliorer la précision de classification, l’invention concerne un appareil de reconnaissance de motifs comprenant : un moyen de transformation de caractéristiques permettant de transformer des vecteurs de caractéristiques bruités en vecteurs de caractéristiques débruités ; un moyen de classification permettant de classer les vecteurs de caractéristiques débruités dans leurs catégories correspondantes et d’estimer ces catégories ; un moyen de calcul de fonction objective permettant de calculer un coût à l'aide des vecteurs de caractéristiques débruités, des vecteurs de caractéristiques propres, des catégories estimées et des étiquettes de vecteurs de caractéristiques ; et un moyen de mise à jour de paramètre permettant de mettre à jour les paramètres du moyen de transformation de caractéristique en fonction du coût.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)