WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2018077920) OPTICAL ARRANGEMENT, MULTI-SPOT SCANNING MICROSCOPE AND METHOD FOR OPERATING A MICROSCOPE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2018/077920 International Application No.: PCT/EP2017/077245
Publication Date: 03.05.2018 International Filing Date: 25.10.2017
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G01J 3/02 (2006.01)
Applicants: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH[DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
Inventors: WALD, Matthias; DE
ANHUT, Tiemo; DE
SCHWEDT, Daniel; DE
Agent: SCHIFFER, Axel; DE
WUNDERLICH, Rainer; DE
HEIM, Florian; DE
RIDDERBUSCH, Oliver; DE
HEIM, Hans-Karl; DE
Priority Data:
10 2016 120 308.425.10.2016DE
Title (EN) OPTICAL ARRANGEMENT, MULTI-SPOT SCANNING MICROSCOPE AND METHOD FOR OPERATING A MICROSCOPE
(FR) SYSTÈME OPTIQUE, MICROSCOPE À BALAYAGE MULTIPOINTS ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE FAIRE FONCTIONNER UN MICROSCOPE
(DE) OPTISCHE ANORDNUNG, MULTISPOT-SCANNING-MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINES MIKROSKOPS
Abstract: front page image
(EN) The invention relates to an optical arrangement, particularly for the detection beam path of a multi-spot scanning microscope, comprising a detection plane, in which a detector is positionable, comprising a dispersive device for spectrally splitting detection light. According to the invention, the optical arrangement is characterized in that a distorting optical unit is present for guiding the detection light into the detection plane, said distorting optical unit being arranged downstream of the dispersive device and upstream of a detection plane, and in that a rotating device is present for the relative rotation of a luminous field of the spectrally separated detection light and the distorting optical unit. The invention additionally relates to a multi-spot scanning microscope and a method for operating a microscope.
(FR) L'invention concerne un système optique, en particulier pour la trajectoire de faisceau de détection d'un microscope à balayage multipoints, comprenant un plan de détection dans lequel un détecteur peut être positionné, comprenant un dispositif dispersif servant à la décomposition spectrale de la lumière de détection. Le système optique selon l'invention est caractérisé en ce qu'une optique de distorsion est prévue pour guider la lumière de détection dans le plan de détection, laquelle optique de distorsion est disposée en aval du dispositif dispersif et en amont d'un plan de détection, et en ce qu'un dispositif rotatif sert à faire tourner relativement un champ lumineux de la lumière de détection décomposée spectralement et de l'optique de distorsion. L'invention concerne en outre un microscope à balayage multipoints et un procédé permettant de faire fonctionner le microscope.
(DE) Die Erfindung betrifft eine optische Anordnung, besondere für den Detektionsstrahlengang eines Multispot-Scanning-Mikroskops, mit einer Detektionsebene, in der ein Detektor positionierbar ist, mit einer dispersiven Einrichtung zum spektralen Aufspalten von Detektionslicht. Die optische Anordnung ist erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet, dass zum Leiten des Detektionslichts in die Detektionsebene eine verzerrende Optik vorhanden ist, die strahlabwärts von der dispersiven Einrichtung und strahlaufwärts von einer Detektionsebene angeordnet ist, und dass eine Dreheinrichtung vorhanden ist zum relativen Verdrehen eines Leuchtfelds des spektral aufgetrennten Detektionslichts und der verzerrenden Optik. Die Erfindung bezieht sich außerdem auf ein Multispot-Scanning-Mikroskop und ein Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)