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1. (WO2018077738) SINGLE PLANE ILLUMINATION MICROSCOPE
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Pub. No.: WO/2018/077738 International Application No.: PCT/EP2017/076824
Publication Date: 03.05.2018 International Filing Date: 20.10.2017
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G02B 21/32 (2006.01)
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21
Microscopes
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21
Microscopes
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Micromanipulators structurally combined with microscopes
Applicants:
CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
Inventors:
KALKBRENNER, Thomas; DE
LIPPERT, Helmut; DE
SIEBENMORGEN, Joerg; DE
NETZ, Ralf; DE
Agent:
PATENTANWÄLTE GEYER, FEHNERS & PARTNER MBB; Sellierstraße 1 07745 Jena, DE
Priority Data:
10 2016 120 683.028.10.2016DE
Title (EN) SINGLE PLANE ILLUMINATION MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE À FEUILLE DE LUMIÈRE
(DE) LICHTBLATTMIKROSKOP
Abstract:
(EN) The invention relates to a single plane illumination microscope comprising an illumination optical system for illuminating a sample (1) located on a sample carrier (2) in a medium, the sample carrier (2) extending parallel to a planar reference surface (3). The sample is illuminated by a light sheet via an illumination light path. The single plane illumination microscope also comprises a detection optical system having a detection beam path. The optical axes of the illumination optical system and the detection optical system each define an angle that is not equal to zero degrees along with the normal to the reference surface (3). The single plane illumination microscope further comprises a barrier layer system which includes at least one layer of a given material having a given thickness and which separates the medium from the illumination and detection optical systems, a base area of the barrier layer system being in contact with the region that is accessible for illumination and detection activities, said base area running parallel to the reference surface (3). At least one corrective element in the illumination beam path and/or the detection beam path allows those aberrations to be reduced which are created when light to be detected or light for illuminating the sample (1) penetrates interfaces of the barrier layer system at an angle. A single plane illumination microscope of this type comprises means, which are independent of the generation of the light sheet, for applying, via at least one manipulation beam path, light intensity to the sample (1) in substantially point-shaped regions of the light sheet plane or in a given volume that at least temporarily encompasses the light sheet plane.
(FR) L'invention concerne un microscope à feuille de lumière qui comprend une optique d'éclairage servant à éclairer un échantillon (1), l'échantillon (1) se trouvant dans un milieu sur un porte-échantillon (2) et le porte-échantillon (2) étant orienté parallèlement à une surface de référence plane (3). L'échantillon est éclairé par une feuille de lumière sur un chemin optique d'éclairage. Le microscope à feuille de lumière comprend également une optique de détection présentant un chemin optique de détection. Les axes optiques de l'optique d'éclairage et de l'optique de détection définissent respectivement avec les normales de la surface de référence (3) un angle différent de zéro. Le microscope à feuille de lumière comprend également un système de couches de séparation comportant au moins une couche composée d'un matériau prédéfini dans une épaisseur prédéfinie qui sépare le milieu de l'optique d'éclairage et de l'optique de détection, le système de couches de séparation étant en contact avec le milieu par une surface de base orientée parallèlement à la surface de référence (3) au moins dans la zone accessible pour l'éclairage et la détection. Sur le chemin optique d'éclairage et/ou de détection est présent au moins un élément de correction qui permet de réduire les aberrations dues au passage oblique de la lumière à détecter ou de la lumière d'éclairage de l'échantillon à travers les interfaces du système de couches de séparation. Un microscope à feuille selon l'invention comprend des moyens indépendants de la production de la feuille de lumière pour l'exposition de l'échantillon (1) à une intensité lumineuse sur au moins un chemin optique de manipulation dans des zones sensiblement ponctuelles du plan de la feuille de lumière ou dans un volume comprenant au moins provisoirement le plan de la feuille de lumière.
(DE) Die Erfindung betrifft ein Lichtblattmikroskop, welches eine Beleuchtungsoptik zur Beleuchtung einer Probe (1) umfasst, die Probe (1) befindet sich dabei auf einen Probenträger (2) in einem Medium, wobei der Probenträger (2) parallel zu einer ebenen Bezugsfläche (3) ausgerichtet ist. Die Probe wird über einen Beleuchtungsstrahlengang mit einem Lichtblatt beleuchtet. Das Lichtblattmikroskop umfasst auch eine Detektionsoptik mit einem Detektionsstrahlengang. Die optischen Achsen von Beleuchtungsoptik und Detektionsoptik schließen mit der Normalen der Bezugsfläche (3) jeweils einen von Null verschiedenen Winkel ein. Das Lichtblattmikroskop umfasst auch ein Trennschichtsystem mit mindestens einer Schicht aus einem vorgegebenen Material mit vorgegebener Dicke, welche das Medium von der Beleuchtungs- und der Detektionsoptik trennt, wobei das Trennschichtsystem mit einer parallel zur Bezugsfläche (3) ausgerichteten Grundfläche zumindest in dem für die Beleuchtung und Detektion zugänglichen Bereich mit dem Medium in Kontakt steht. Mindestens ein Korrekturelement ist im Beleuchtungs- und / oder Detektionsstrahlengang vorgesehen, mit welchem solche Aberrationen verringert werden können, welche aufgrund des schrägen Durchtritts von zu detektierendem Licht bzw. von Licht zur Beleuchtung der Probe (1) durch Grenzflächen des Trennschichtsystems entstehen. Ein solches Lichtblattmikroskop umfasst dabei von der Lichtblatterzeugung unabhängige Mittel zur Beaufschlagung der Probe (1) mit Lichtintensität in im Wesentlichen punktförmigen Gebieten in der Lichtblattebene oder in einem vorgegebenen, die Lichtblattebene mindestens zeitweise umfassenden Volumen über mindestens einen Manipulationsstrahlengang.
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Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)